MOSFET模型及MUX/DEMUX电路设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 绪论 | 第9-11页 |
| 第一章 MOSFET的发展 | 第11-23页 |
| ·半导体器件结构 | 第11-12页 |
| ·场效应晶体管的类型 | 第12-14页 |
| ·MOSFET的结构 | 第14-16页 |
| ·MOSFET的直流特性 | 第16-17页 |
| ·MOS器件等比例缩小 | 第17-19页 |
| ·等比例缩小规律 | 第17-19页 |
| ·短沟道效应和窄沟道效应 | 第19页 |
| ·新型结构CMOS器件 | 第19-23页 |
| ·新型衬底结构器件 | 第20页 |
| ·新型栅器件 | 第20-21页 |
| ·新型沟道器件 | 第21-23页 |
| 第二章 MOSFET模型和参数提取 | 第23-45页 |
| ·三种不同的建模方法 | 第24-25页 |
| ·基于电荷模型 | 第24页 |
| ·基于表面势模型 | 第24页 |
| ·基于电导模型 | 第24-25页 |
| ·BSIM模型 | 第25-26页 |
| ·BSIM模型的发展 | 第25-26页 |
| ·BSIM3 主要特点 | 第26页 |
| ·参数提取的原理和算法 | 第26-28页 |
| ·器件测试 | 第28-30页 |
| ·器件尺寸的选取 | 第28-29页 |
| ·器件的测试 | 第29-30页 |
| ·参数提取 | 第30-44页 |
| ·单器件参数提取 | 第30-33页 |
| ·多器件参数提取 | 第33-40页 |
| ·区域化（binning）参数提取 | 第40-43页 |
| ·寄生结电容参数提取 | 第43-44页 |
| ·小结 | 第44-45页 |
| 第三章 MUX/DEMUX的系统设计 | 第45-53页 |
| ·复接器的系统设计 | 第45-48页 |
| ·复接器的基本结构 | 第45-46页 |
| ·复接器的系统特征 | 第46-47页 |
| ·复接器的系统描述 | 第47-48页 |
| ·复接器芯片引脚说明 | 第48页 |
| ·分接器的系统设计 | 第48-53页 |
| ·分接器的基本结构 | 第48-49页 |
| ·分接器的系统特征 | 第49页 |
| ·分接器的系统描述 | 第49-51页 |
| ·分接器芯片引脚说明 | 第51-53页 |
| 第四章 电路设计 | 第53-68页 |
| ·数字电路基础 | 第53-54页 |
| ·CMOS逻辑电路 | 第54-58页 |
| ·CMOS反相器 | 第54-57页 |
| ·CMOS传输门 | 第57-58页 |
| ·触发器的设计 | 第58-62页 |
| ·触发器与锁存器的区别 | 第58-59页 |
| ·触发器的分类及各自的优缺点 | 第59-61页 |
| ·触发器的性能要求 | 第61-62页 |
| ·准静态触发器结构及优化设计 | 第62-65页 |
| ·电路结构 | 第62-63页 |
| ·参数优化 | 第63-65页 |
| ·单端转双端电路设计 | 第65页 |
| ·分频器的设计 | 第65-66页 |
| ·接口电路设计 | 第66-68页 |
| 第五章 电路仿真和版图设计 | 第68-76页 |
| ·电路仿真 | 第68-71页 |
| ·复接器仿真 | 第68-69页 |
| ·分接器仿真 | 第69-71页 |
| ·版图设计 | 第71-76页 |
| ·版图设计流程 | 第71-72页 |
| ·CMOS版图设计要点 | 第72-74页 |
| ·电路版图 | 第74-76页 |
| 第六章 测试结果 | 第76-82页 |
| ·芯片测试的环境 | 第76-77页 |
| ·复接器的测试 | 第77-78页 |
| ·分接器的测试 | 第78-82页 |
| 结论 | 第82-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-87页 |
