| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-8页 |
| 第二章 SOC芯片测试综述 | 第8-25页 |
| ·测试的基本概念 | 第8-10页 |
| ·芯片故障及其模型 | 第10-11页 |
| ·芯片测试分类 | 第11-15页 |
| ·芯片测试按对象分类 | 第11-15页 |
| ·固定故障测试(stuck at测试) | 第12页 |
| ·时延测试 | 第12-13页 |
| ·IDDQ测试 | 第13-14页 |
| ·模拟和混合信号电路测试 | 第14-15页 |
| ·可测性设计技术 | 第15-23页 |
| ·扫描链测试设计 | 第15-20页 |
| ·边界扫描测试设计 | 第20-22页 |
| ·BIST测试设计 | 第22-23页 |
| ·SOC芯片对测试的要求 | 第23-25页 |
| 第三章 采用OPMISR技术提高测试效率 | 第25-41页 |
| ·OPMISR(片上多输入鉴别寄存器)扫描链测试方法 | 第25-28页 |
| ·MISR的算法实现 | 第28-32页 |
| ·线性反馈移位寄存器LFSR的算法实现和结构 | 第28-30页 |
| ·External LFSR的结构 | 第29-30页 |
| ·Internal LFSR的结构 | 第30-32页 |
| ·利用LFSR的数据压缩 | 第32-34页 |
| ·MISR多输入鉴别寄存器 | 第34-35页 |
| ·OPMISR的工作模式 | 第35-41页 |
| 第四章 采用片上存储器修复系统提高芯片成品率 | 第41-57页 |
| ·片上修复系统简介 | 第41-45页 |
| ·片上修复系统是SOC芯片产品管理发展的需要 | 第41-43页 |
| ·基于e-fuse的片上存储器修复系统简介 | 第43-45页 |
| ·e-fusePSR和e-fuse的结构 | 第45-47页 |
| ·Fuse bay | 第47-49页 |
| ·介绍Fuse Control模块 | 第49-53页 |
| ·Fuse control模块结构 | 第49-50页 |
| ·fuse controller的压缩算法 | 第50-53页 |
| ·利用efuse作on chip repair的流程。 | 第53-57页 |
| 第五章 OPMISR和片上存储器修复系统的芯片实现和结果分析 | 第57-64页 |
| ·芯片简介 | 第57-59页 |
| ·OPMISR和片上存储器修复系统实现 | 第59-63页 |
| ·OPMISR的实现 | 第59-61页 |
| ·片上存储器修复系统的实现 | 第61-63页 |
| ·结果分析 | 第63-64页 |
| 第六章 结论 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-66页 |
