| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-10页 |
| 1．1 嵌入式系统的概述 | 第7-8页 |
| 1．1．1 嵌入式系统概念 | 第7页 |
| 1．1．2 嵌入式系统特点 | 第7-8页 |
| 1．1．3 嵌入式系统的发展趋势 | 第8页 |
| 1．1．4 嵌入式系统软件开发环境 | 第8页 |
| 1．2 论文的背景 | 第8-9页 |
| 1．3 论文的组织结构 | 第9-10页 |
| 第2章 交叉调试技术概论 | 第10-14页 |
| 2．1 交叉调试原理 | 第10-11页 |
| 2．2 交叉调试方法 | 第11-14页 |
| 2．2．1 Rom Monitor方式 | 第12-13页 |
| 2．2．2 ROM Emulator | 第13-14页 |
| 第3章 在线仿真器 | 第14-19页 |
| 3．1 ICE简介 | 第14-15页 |
| 3．2 ICE系统结构 | 第15-17页 |
| 3．3 ICE优缺点 | 第17-19页 |
| 第4章 片上调试方法 | 第19-36页 |
| 4．1 片上调试器简介 | 第19页 |
| 4．2 后台调试适配器(Background Debug Mode，BDM) | 第19-22页 |
| 4．3 Joint Test Action Group (JTAG) | 第22-29页 |
| 4．3．1 JTAG简介 | 第22-23页 |
| 4．3．2 边界扫描测试原理 | 第23-24页 |
| 4．3．3 JTAG电路结构 | 第24-29页 |
| 4．4 ARM核的JTAG结构及其调试方法 | 第29-36页 |
| 4．4．1 ARM JTAG调试构架 | 第29-31页 |
| 4．4．2 ARM7TDMI的指令寄存器及常用JTAG指令 | 第31-32页 |
| 4．4．3 EmbeddedICE-RT Logic | 第32-33页 |
| 4．4．4 调试实现 | 第33-36页 |
| 第5章 基于GDB远程调试方案的设计 | 第36-56页 |
| 5．1 GDB | 第36-44页 |
| 5．1．1 GDB总体结构 | 第37页 |
| 5．1．2 用户接口 | 第37-38页 |
| 5．1．3 符号处理 | 第38-40页 |
| 5．1．4 目标系统处理 | 第40-42页 |
| 5．1．5 算法 | 第42-44页 |
| 5．2 RSP协议 | 第44-47页 |
| 5．2．1 请求 | 第45-46页 |
| 5．2．2 答复 | 第46-47页 |
| 5．3 目标机上的stub | 第47-56页 |
| 5．3．1 内核层调试模型 | 第48-51页 |
| 5．3．2 应用程序调试模型 | 第51-53页 |
| 5．3．3 不修改内核前提下调试应用程序 | 第53-56页 |
| 第6章 总结 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
