基于油样光谱分析的设备磨损状态监测系统的研究
| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-18页 |
| ·课题来源及背景 | 第13-14页 |
| ·油样检测分析的意义 | 第14-15页 |
| ·油样检测分析的发展现状 | 第15-17页 |
| ·本课题研究的主要内容 | 第17-18页 |
| 第二章 油样检测内容及其远程监测技术概况 | 第18-27页 |
| ·油样检测技术概述 | 第18页 |
| ·油样检测技术的主要内容 | 第18-20页 |
| ·理化监测分析 | 第18-19页 |
| ·污染度监测分析 | 第19页 |
| ·谱分析 | 第19-20页 |
| ·铁谱分析 | 第19-20页 |
| ·光谱分析 | 第20页 |
| ·特征分析 | 第20-24页 |
| ·理化特征 | 第20-24页 |
| ·磨损特征 | 第24页 |
| ·污染特征 | 第24页 |
| ·基于INTERNET油样远程监测技术 | 第24-26页 |
| ·在线监测和离线监测结合 | 第24-25页 |
| ·基于Internet磨粒图像识别技术 | 第25页 |
| ·基于Internet监测中心平台 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 发射光谱金属元素浓度数据预处理 | 第27-33页 |
| ·原始发射光谱浓度数据分析 | 第27-29页 |
| ·元素浓度数据预处理 | 第29-32页 |
| ·定义和条件假设 | 第29-30页 |
| ·例外点剔出方法和修正 | 第30-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 设备剧烈磨损的偏最小二乘分析 | 第33-44页 |
| ·设备剧烈磨损判断原理 | 第33页 |
| ·基本概念 | 第33-34页 |
| ·问题描述及目标函数构造 | 第34-35页 |
| ·正常磨损状态下偏最小二乘分析 | 第35-41页 |
| ·PLS1建模原理 | 第35-36页 |
| ·PLS1算法步骤 | 第36-37页 |
| ·回归精度控制 | 第37-38页 |
| ·PLS1应用于1#液压LP系统磨损分析 | 第38-41页 |
| ·异常剧烈磨损的分析和判断 | 第41-43页 |
| ·预测图分析 | 第41-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第五章 发射光谱金属元素模糊聚类分析 | 第44-51页 |
| ·问题描述 | 第44页 |
| ·基本概念 | 第44页 |
| ·发射光谱金属元素模糊聚类的变量组确定 | 第44-50页 |
| ·模糊聚类算法步骤 | 第44-45页 |
| ·变量组相关定义 | 第45-50页 |
| ·LP系统发射光谱金属元素变量组确定 | 第50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第六章 基于灰色关联度的磨损部位识别 | 第51-62页 |
| ·1#液压LP系统的组成 | 第51-55页 |
| ·主要组成部分 | 第51-53页 |
| ·主要磨损部位及材料元素分析 | 第53-55页 |
| ·构造标准磨损部位识别模式 | 第55-56页 |
| ·灰色关联理论分析 | 第56-60页 |
| ·重要概念 | 第57-58页 |
| ·灰色关联公理和灰色关联度 | 第58-59页 |
| ·灰色关联度计算方法和步骤 | 第59-60页 |
| ·基于灰色关联度磨损部位识别实例 | 第60-61页 |
| ·基于灰色关联度的磨损部位识别流程 | 第60页 |
| ·1#液压LP系统磨损部位识别实例 | 第60-61页 |
| ·本章总结 | 第61-62页 |
| 第七章 系统设计研究和部分实例 | 第62-78页 |
| ·UML系统设计分析 | 第62-69页 |
| ·系统角色分析 | 第62-64页 |
| ·系统用例分析 | 第64-66页 |
| ·系统序列图分析 | 第66-67页 |
| ·系统类图分析 | 第67-69页 |
| ·系统数据库设计 | 第69-70页 |
| ·系统实现方法研究 | 第70-74页 |
| ·B／S下系统三层结构 | 第70-72页 |
| ·软件系统架构研究 | 第72-74页 |
| ·系统主要功能和部分实例 | 第74-77页 |
| ·系统主要功能 | 第74-75页 |
| ·部分实例 | 第75-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 全文总结与发展展望 | 第78-80页 |
| 总结 | 第78-79页 |
| 展望 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-83页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文 | 第83-84页 |
| 独创性声明 | 第84-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 附录 | 第86-87页 |
