| 第一章 绪 论 | 第1-11页 |
| ·现代电子信息技术与新型元器件的发展 | 第6-9页 |
| ·多层陶瓷电容器 | 第9-11页 |
| 第二章 微波介质陶瓷材料综述 | 第11-27页 |
| ·微波介质陶瓷材料的发展历史 | 第12-14页 |
| ·微波介质陶瓷材料的介电性能 | 第14-16页 |
| ·微波介质陶瓷材料的应用 | 第16-20页 |
| ·常见的微波介质陶瓷系统 | 第20-24页 |
| ·课题研究背景、内容和意义 | 第24-27页 |
| 第三章 实验工艺过程与样品测试 | 第27-32页 |
| ·实验工艺过程 | 第27-30页 |
| ·样品测试 | 第30-32页 |
| 第四章 添加BaSnO_3对Ba(Mg_(1/3)Ta_(2/3))O_3结构和介电性能的影响 | 第32-41页 |
| ·(1-x)Ba(Mg_(1/3)Ta_(2/3))O_3-xBaSnO_3陶瓷材料的微观结构分析 | 第33-35页 |
| ·X射线衍射(XRD)分析 | 第33-34页 |
| ·电子扫描电镜(SEM)分析 | 第34-35页 |
| ·添加BaSnO_3对系统微波介电性能的影响 | 第35-41页 |
| ·添加BaSnO_3对系统密度及烧结性能的影响 | 第35-36页 |
| ·添加BaSnO_3对系统介电常数ε_r的影响 | 第36-37页 |
| ·添加BaSnO_3对系统Q值的影响 | 第37-39页 |
| ·添加BaSnO_3对系统τ_l的影响 | 第39-41页 |
| 第五章 (Ba_(1-x)Sr_x)(Mg_(1/3)Ta_(2/3))O_3微波陶瓷介电性能研究 | 第41-52页 |
| ·(Ba_(1-x)Sr_x)(Mg_(1/3)Ta_(2/3))O_3陶瓷材料微观结构分析 | 第41-44页 |
| ·(Ba_(1-x)Sr_x)(Mg_(1/3)Ta_(2/3))O_3陶瓷烧结性能的分析 | 第44-45页 |
| ·(Ba_(1-x)Sr_x)(Mg_(1/3)Ta_(2/3))O_3系统介电性能的分析 | 第45-52页 |
| ·x含量对系统介电常数ε_r的影响 | 第45-47页 |
| ·x含量对系统介电常数温度系数α_ε的影响 | 第47-49页 |
| ·x含量对系统品质因数Q的影响 | 第49-52页 |
| 第六章 结 论 | 第52-54页 |
| 参 考 文 献 | 第54-58页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第58-59页 |
| 致 谢 | 第59页 |
