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光折变晶体体全息识别系统相关峰均匀性及小型化的研究

摘要第1-6页
Abstract第6-14页
第1章 绪论第14-23页
   ·课题的来源及研究的目的和意义第14-15页
   ·光折变体全息存储和识别的研究进展第15-20页
   ·光折变体全息存储材料第20-22页
   ·本课题的主要研究内容第22-23页
第2章 光折变晶体全息存储性能第23-43页
   ·光折变效应第23-30页
     ·光致电荷输运第23-27页
     ·光折变特性第27-30页
   ·体全息耦合波理论第30-35页
     ·耦合波理论第30-33页
     ·动态耦合波理论第33-35页
   ·Zn:Fe:LiNbO_3晶体材料的性能第35-42页
     ·二波耦合指数增益系数的测试第35-39页
     ·抗光折变性能实验第39-41页
     ·Zn:Fe:LiNbO_3:晶体的全息存储性能第41-42页
   ·本章小结第42-43页
第3章 固定对衍射特性的影响第43-58页
   ·光栅的固定方法第43-49页
     ·In:Ce:Cu:LiNbO_3晶体的热固定第43-46页
     ·In:Ce:Cu:LiNbO_3晶体的双光子固定第46-49页
   ·固定对衍射光强的影响第49-54页
     ·衍射光强的普遍解第49-51页
     ·衍射光强特性第51-54页
   ·非对易衍射验证实验第54-57页
     ·晶体中调制光栅影响衍射光强实验第54-55页
     ·热固定影响衍射峰强度均匀性实验第55-57页
   ·本章小结第57-58页
第4章 衍射峰强度的均匀性第58-71页
   ·衍射效率的变化特性第58-60页
   ·角度对衍射效率影响的数值分析第60-65页
     ·一维记录光路中的角度影响第60-62页
     ·二维记录光路中的角度影响的数值分析第62-65页
   ·识别存储中曝光机制的确定第65-69页
     ·光束相交平面和c轴共面的曝光机制第65-67页
     ·复用参考光偏离c轴和信号光平面的曝光机制第67-69页
   ·识别存储中的等衍射效率实验第69-70页
   ·本章小结第70-71页
第5章 基于衍射峰特征的小型化识别系统第71-112页
   ·光学模式识别介绍第71-72页
   ·体全息相关识别原理第72-75页
   ·小型化相关识别系统的整体结构第75-88页
     ·小型化识别系统光路设计第75-77页
     ·单元器件的介绍第77-78页
     ·小型化识别系统的性能第78-80页
     ·小型化识别系统的控制系统第80-83页
     ·识别系统中输入图像的数字处理第83-88页
   ·小型化相关识别系统的实验研究第88-103页
     ·识别系统的直接识别第88-90页
     ·体全息模板识别方法第90-92页
     ·非固定模板识别方法的研究第92-94页
     ·衍射峰质量的优化第94-98页
     ·同一体积内的大量图像存储及识别第98-99页
     ·存储图像的热固定第99-102页
     ·反射式方式存储及识别第102-103页
   ·小型化系统的其它方式识别第103-111页
     ·大容量盘式体全息存储及识别第103-105页
     ·小型化系统的实时识别第105-109页
     ·三维物体识别第109-111页
   ·本章小结第111-112页
第6章 小型化系统的局域体全息识别研究第112-126页
   ·局域体全息技术介绍第112-113页
   ·局域体全息识别系统的研究第113-122页
     ·双光子存储及识别第113-115页
     ·局域体全息识别系统光路的设计第115-116页
     ·识别原理第116-118页
     ·识别系统的特性第118-120页
     ·局域体全息识别系统的实验研究第120-122页
   ·局域体全息识别系统的片内复用第122-125页
     ·局域复用的曝光时序第122-125页
   ·本章小结第125-126页
结论第126-127页
参考文献第127-136页
攻读学位期间发表的学术论文第136-138页
致谢第138-139页
个人简历第139页

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