摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-14页 |
第1章 绪论 | 第14-23页 |
·课题的来源及研究的目的和意义 | 第14-15页 |
·光折变体全息存储和识别的研究进展 | 第15-20页 |
·光折变体全息存储材料 | 第20-22页 |
·本课题的主要研究内容 | 第22-23页 |
第2章 光折变晶体全息存储性能 | 第23-43页 |
·光折变效应 | 第23-30页 |
·光致电荷输运 | 第23-27页 |
·光折变特性 | 第27-30页 |
·体全息耦合波理论 | 第30-35页 |
·耦合波理论 | 第30-33页 |
·动态耦合波理论 | 第33-35页 |
·Zn:Fe:LiNbO_3晶体材料的性能 | 第35-42页 |
·二波耦合指数增益系数的测试 | 第35-39页 |
·抗光折变性能实验 | 第39-41页 |
·Zn:Fe:LiNbO_3:晶体的全息存储性能 | 第41-42页 |
·本章小结 | 第42-43页 |
第3章 固定对衍射特性的影响 | 第43-58页 |
·光栅的固定方法 | 第43-49页 |
·In:Ce:Cu:LiNbO_3晶体的热固定 | 第43-46页 |
·In:Ce:Cu:LiNbO_3晶体的双光子固定 | 第46-49页 |
·固定对衍射光强的影响 | 第49-54页 |
·衍射光强的普遍解 | 第49-51页 |
·衍射光强特性 | 第51-54页 |
·非对易衍射验证实验 | 第54-57页 |
·晶体中调制光栅影响衍射光强实验 | 第54-55页 |
·热固定影响衍射峰强度均匀性实验 | 第55-57页 |
·本章小结 | 第57-58页 |
第4章 衍射峰强度的均匀性 | 第58-71页 |
·衍射效率的变化特性 | 第58-60页 |
·角度对衍射效率影响的数值分析 | 第60-65页 |
·一维记录光路中的角度影响 | 第60-62页 |
·二维记录光路中的角度影响的数值分析 | 第62-65页 |
·识别存储中曝光机制的确定 | 第65-69页 |
·光束相交平面和c轴共面的曝光机制 | 第65-67页 |
·复用参考光偏离c轴和信号光平面的曝光机制 | 第67-69页 |
·识别存储中的等衍射效率实验 | 第69-70页 |
·本章小结 | 第70-71页 |
第5章 基于衍射峰特征的小型化识别系统 | 第71-112页 |
·光学模式识别介绍 | 第71-72页 |
·体全息相关识别原理 | 第72-75页 |
·小型化相关识别系统的整体结构 | 第75-88页 |
·小型化识别系统光路设计 | 第75-77页 |
·单元器件的介绍 | 第77-78页 |
·小型化识别系统的性能 | 第78-80页 |
·小型化识别系统的控制系统 | 第80-83页 |
·识别系统中输入图像的数字处理 | 第83-88页 |
·小型化相关识别系统的实验研究 | 第88-103页 |
·识别系统的直接识别 | 第88-90页 |
·体全息模板识别方法 | 第90-92页 |
·非固定模板识别方法的研究 | 第92-94页 |
·衍射峰质量的优化 | 第94-98页 |
·同一体积内的大量图像存储及识别 | 第98-99页 |
·存储图像的热固定 | 第99-102页 |
·反射式方式存储及识别 | 第102-103页 |
·小型化系统的其它方式识别 | 第103-111页 |
·大容量盘式体全息存储及识别 | 第103-105页 |
·小型化系统的实时识别 | 第105-109页 |
·三维物体识别 | 第109-111页 |
·本章小结 | 第111-112页 |
第6章 小型化系统的局域体全息识别研究 | 第112-126页 |
·局域体全息技术介绍 | 第112-113页 |
·局域体全息识别系统的研究 | 第113-122页 |
·双光子存储及识别 | 第113-115页 |
·局域体全息识别系统光路的设计 | 第115-116页 |
·识别原理 | 第116-118页 |
·识别系统的特性 | 第118-120页 |
·局域体全息识别系统的实验研究 | 第120-122页 |
·局域体全息识别系统的片内复用 | 第122-125页 |
·局域复用的曝光时序 | 第122-125页 |
·本章小结 | 第125-126页 |
结论 | 第126-127页 |
参考文献 | 第127-136页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第136-138页 |
致谢 | 第138-139页 |
个人简历 | 第139页 |