| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第12-26页 |
| 1.1 聚变能源发展的必要性 | 第12-13页 |
| 1.2 托卡马克装置发展现状 | 第13-18页 |
| 1.2.1 托卡马克装置 | 第13-14页 |
| 1.2.2 中国聚变工程实验堆CFETR | 第14-15页 |
| 1.2.3 CFETR真空室的制造以及无损检测需求 | 第15-18页 |
| 1.3 奥氏体钢焊缝超声检测难点及其研究进展 | 第18-20页 |
| 1.4 相控阵超声检测技术 | 第20-24页 |
| 1.4.1 相控阵超声检测技术概述 | 第20-21页 |
| 1.4.2 相控阵超声检测技术的发展 | 第21-24页 |
| 1.5 论文工作的意义及内容安排 | 第24-26页 |
| 第2章 真空室焊接接头组织特征与声学性能 | 第26-47页 |
| 2.1 试验材料 | 第26-28页 |
| 2.2 焊接接头组织与显微硬度 | 第28-38页 |
| 2.2.1 试验方案 | 第28-31页 |
| 2.2.2 试验结果与分析 | 第31-37页 |
| 2.2.3 316L氩弧焊焊缝凝固模式讨论 | 第37-38页 |
| 2.3 焊接接头声速与衰减特性 | 第38-43页 |
| 2.3.1 超声波的传播速度和衰减理论 | 第38-40页 |
| 2.3.2 试验方案 | 第40-42页 |
| 2.3.3 试验结果与讨论 | 第42-43页 |
| 2.4 焊接接头超声可检性初步研究 | 第43-45页 |
| 2.4.1 试验方案 | 第43-44页 |
| 2.4.2 试验结果与讨论 | 第44-45页 |
| 2.5 本章小结 | 第45-47页 |
| 第3章 相控阵超声探头关键技术研究 | 第47-66页 |
| 3.1 相控阵探头基本理论 | 第47-53页 |
| 3.1.1 超声相控阵探头类别 | 第47-49页 |
| 3.1.2 超声相控阵探头结构参数 | 第49-53页 |
| 3.2 超声探头的声场辐射理论 | 第53-58页 |
| 3.2.1 单源矩形探头的辐射声场 | 第53-55页 |
| 3.2.2 阵列相控阵探头的辐射声场 | 第55-57页 |
| 3.2.3 阵列参数对声场的影响 | 第57-58页 |
| 3.3 相控阵探头近场区长度 | 第58-60页 |
| 3.3.1 无楔块相控阵探头的近场区长度 | 第58页 |
| 3.3.2 楔块偏转声场的近场区长度解析计算 | 第58-60页 |
| 3.4 折射纵波检测扇形扫查角度范围 | 第60-62页 |
| 3.5 相控阵超声检测成像质量 | 第62-65页 |
| 3.5.1 空间分辨力及其影响因素 | 第62-64页 |
| 3.5.2 伪像问题 | 第64-65页 |
| 3.6 本章小结 | 第65-66页 |
| 第4章 相控阵超声检测关键参数优化 | 第66-88页 |
| 4.1 相控阵探头选型 | 第66-70页 |
| 4.1.1 线阵相控阵探头 | 第66-68页 |
| 4.1.2 双晶面阵相控阵探头 | 第68-70页 |
| 4.2 线阵相控阵探头聚焦参数优化 | 第70-78页 |
| 4.2.1 无楔块下声场特征 | 第70-73页 |
| 4.2.2 零度楔块聚焦参数优化 | 第73-76页 |
| 4.2.3 斜楔块下聚焦参数优化 | 第76-78页 |
| 4.3 双晶面阵相控阵探头聚焦参数优化 | 第78-81页 |
| 4.3.1 无延时法则下声场特征 | 第78-79页 |
| 4.3.2 不同聚焦深度声场特征 | 第79-80页 |
| 4.3.3 聚焦法则优化 | 第80-81页 |
| 4.4 相控阵检测工艺优化 | 第81-84页 |
| 4.5 相控阵检测脉冲宽度优化 | 第84-86页 |
| 4.5.1 脉冲宽度理论 | 第84页 |
| 4.5.2 脉冲宽度优化结果与分析 | 第84-86页 |
| 4.6 本章小结 | 第86-88页 |
| 第5章 真空室典型焊接接头相控阵超声检测工艺 | 第88-106页 |
| 5.1 检测系统研制 | 第88-93页 |
| 5.1.1 相控阵主机 | 第89页 |
| 5.1.2 数据采集与分析软件 | 第89-90页 |
| 5.1.3 探头系统 | 第90-91页 |
| 5.1.4 扫查架 | 第91页 |
| 5.1.5 试块 | 第91-93页 |
| 5.2 聚焦法则与扫查设置 | 第93-95页 |
| 5.2.1 T型焊接接头 | 第93-94页 |
| 5.2.2 对接焊接接头 | 第94-95页 |
| 5.3 校准 | 第95-98页 |
| 5.3.1 阵元一致性校准 | 第95-96页 |
| 5.3.2 楔块角度、探头前沿校准 | 第96-97页 |
| 5.3.3 TCG校准 | 第97-98页 |
| 5.4 灵敏度设置和验收规范 | 第98-100页 |
| 5.4.1 灵敏度衰减补偿实验 | 第98-100页 |
| 5.4.2 验收规范 | 第100页 |
| 5.5 对接焊缝相控阵检测能力验证 | 第100-105页 |
| 5.5.1 能力验证试块设计与加工 | 第100-102页 |
| 5.5.2 试验结果与分析 | 第102-105页 |
| 5.6 本章小结 | 第105-106页 |
| 第6章 全文总结与展望 | 第106-109页 |
| 6.1 主要研究内容 | 第106-107页 |
| 6.2 论文创新点 | 第107页 |
| 6.3 未来工作展望 | 第107-109页 |
| 参考文献 | 第109-115页 |
| 致谢 | 第115-116页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第116页 |