| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第9-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-15页 |
| 1.3 本文研究内容 | 第15-17页 |
| 2 相关基础理论 | 第17-28页 |
| 2.1 IGBT结构和工作原理 | 第17-20页 |
| 2.2 IGBT模块失效机理分类 | 第20-24页 |
| 2.3 可靠性考核实验 | 第24-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 3 IGBT功率模块中引线布局对可靠性影响 | 第28-40页 |
| 3.1 有限元方法 | 第28页 |
| 3.2 模型建立与仿真 | 第28-34页 |
| 3.3 实验结果及讨论 | 第34-39页 |
| 3.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 4 IGBT模块中热应力和电磁力分析 | 第40-51页 |
| 4.1 IGBT模块在直流激励下的应力仿真 | 第40-43页 |
| 4.2 IGBT模块在脉冲电流下的应力仿真 | 第43-48页 |
| 4.3 IGBT脉冲放电实验 | 第48-50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 5 结论与未来展望 | 第51-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-58页 |
| 附录 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第58页 |