摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-14页 |
第1章 绪论 | 第14-28页 |
·DOE 的应用与发展 | 第14-17页 |
·MWIR/LWIR 双波段系统的应用和发展 | 第17-22页 |
·典型的成像光谱仪 | 第22-27页 |
·传统的成像光谱仪 | 第22-24页 |
·衍射光学成像光谱仪 | 第24-27页 |
·选题的意义 | 第27页 |
·小结 | 第27-28页 |
第2章 DOE 的成像分光特性 | 第28-42页 |
·DOE 的位相特性 | 第28-29页 |
·DOE 的色散特性 | 第29-30页 |
·DOE 初级像差特性 | 第30-33页 |
·DOE 的衍射效率 | 第33-37页 |
·HDE 的独特性质 | 第37-40页 |
·HDE 的结构特点 | 第37-38页 |
·P 对HDE 结构的影响 | 第38-39页 |
·HDE 的衍射效率 | 第39-40页 |
·小结 | 第40-42页 |
第3章 基于HDE 的凝视型成像光谱技术的理论基础 | 第42-54页 |
·HDE 凝视型成像光谱仪的基本原理 | 第42-45页 |
·HDE 凝视型成像光谱仪的光谱分辨率 | 第45-49页 |
·HDE 凝视型成像光谱技术图像处理算法的数理模型 | 第49-51页 |
·HDE 凝视型成像光谱技术的优缺点分析 | 第51-52页 |
·小结 | 第52-54页 |
第4章 基于HDE 的MWIR/LWIR 双波段成像光谱系统的光学设计 | 第54-94页 |
·基于HDE 的红外热成像光谱仪光学设计的理论基础 | 第54-59页 |
·红外热成像基础 | 第54-56页 |
·HDE 的初级像差特性 | 第56-57页 |
·非球面的初级像差特性 | 第57-59页 |
·A1 的正负对 HDE 的加工和基于HDE 的MWIR/LWIR 成像光谱仪光学系统的影响 | 第59-67页 |
·刀头形状对HDE 加工的影响 | 第59-63页 |
·A1 正负对HDE 加工的影响 | 第63-64页 |
·A1的正负对基于HDE 的MWIR/LWIR成像光谱仪光学系统的影响 | 第64-67页 |
·基于 HDE 的MWIR/LWIR 双波段高分辨率成像光谱仪光学设计 | 第67-80页 |
·光学系统的参数制定和设计 | 第67-70页 |
·高分辨率成像光谱仪光学系统的性能分析 | 第70-75页 |
·HDE 的位相结构 | 第75-80页 |
·基于HDE 的MWIR/LWIR 双波段成像光谱仪原理样机的光学系统设计 | 第80-93页 |
·光学系统的参数制定 | 第80-81页 |
·光学系统的设计 | 第81-85页 |
·光学系统的性能分析 | 第85-87页 |
·HDE 的位相结构 | 第87-92页 |
·HDE 透镜的实物照片 | 第92页 |
·原理样机的光学系统参数与国外先进水平样机参数的对比 | 第92-93页 |
·小结 | 第93-94页 |
第5章 基于HDE 的MWIR/LWIR 双波段成像光谱系统的定标理论 | 第94-102页 |
·成像光谱仪的实验室定标 | 第94-95页 |
·基本的辐射理论 | 第95-97页 |
·普朗克辐射定律 | 第95-96页 |
·维恩位移定律 | 第96-97页 |
·辐射定标源 | 第97-98页 |
·光谱定标原理 | 第98-101页 |
·小结 | 第101-102页 |
第6章 原理样机及试验 | 第102-114页 |
·原理样机 | 第102-106页 |
·原理样机的工作原理 | 第102-103页 |
·原理样机及关键部件说明 | 第103-106页 |
·辐射定标试验结果 | 第106-108页 |
·辐射定标的误差分析与计算 | 第108-109页 |
·光谱定标试验结果 | 第109页 |
·对实际目标的光谱图像测试 | 第109-113页 |
·小结 | 第113-114页 |
第7章 结论 | 第114-116页 |
·论文的主要工作进展 | 第114页 |
·具有创新意义的工作 | 第114-115页 |
·进一步研究工作 | 第115-116页 |
参考文献 | 第116-125页 |
在学期间学术成果情况 | 第125-127页 |
指导教师及作者简介 | 第127-128页 |
致谢 | 第128页 |