功率开关器件驱动芯片关键电路的研究与设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题背景 | 第9-10页 |
| 1.2 功率开关器件的发展概况 | 第10-11页 |
| 1.3 IGBT驱动芯片的研究概况 | 第11-12页 |
| 1.4 课题主要研究内容 | 第12-14页 |
| 2 IGBT的结构、原理及特性 | 第14-22页 |
| 2.1 IGBT的物理结构及工作原理 | 第14-15页 |
| 2.2 IGBT的电气特性 | 第15-17页 |
| 2.3 IGBT模块内部结构与开关表现 | 第17-20页 |
| 2.4 IGBT模块开关过程风险点总结 | 第20-21页 |
| 2.5 本章小结 | 第21-22页 |
| 3 驱动芯片设计方案 | 第22-33页 |
| 3.1 IGBT模块驱动需求分析 | 第22-23页 |
| 3.2 芯片设计指标 | 第23页 |
| 3.3 芯片架构方案 | 第23-24页 |
| 3.4 功率驱动器件 | 第24-26页 |
| 3.5 基准及偏置 | 第26-27页 |
| 3.6 保护措施 | 第27-32页 |
| 3.7 本章小结 | 第32-33页 |
| 4 驱动芯片子模块设计与仿真 | 第33-61页 |
| 4.1 栅极驱动模块 | 第33-34页 |
| 4.2 基准及偏置模块 | 第34-43页 |
| 4.3 欠压检测模块 | 第43-47页 |
| 4.4 短路检测模块 | 第47-57页 |
| 4.5 逻辑控制及功放模块 | 第57-60页 |
| 4.6 本章小结 | 第60-61页 |
| 5 驱动芯片整体仿真验证 | 第61-67页 |
| 5.1 芯片整体结构及测试电路 | 第61-62页 |
| 5.2 正常工作情况仿真 | 第62-63页 |
| 5.3 供电电源过低情况仿真 | 第63-64页 |
| 5.4 短路情况仿真 | 第64-66页 |
| 5.5 本章小结 | 第66-67页 |
| 6 总结与展望 | 第67-70页 |
| 6.1 总结 | 第67-68页 |
| 6.2 展望 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
