基于外推法的天线增益测量
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
符号对照表 | 第11-12页 |
缩略语对照表 | 第12-15页 |
第一章 绪论 | 第15-25页 |
1.1 增益的定义及测量方法 | 第15-20页 |
1.1.1 增益的定义 | 第15页 |
1.1.2 主要测量方法 | 第15-20页 |
1.2 外推法增益测量的研究背景及意义 | 第20-22页 |
1.3 本文主要工作及内容安排 | 第22-25页 |
第二章 外推法增益测量基本理论 | 第25-45页 |
2.1 平面波散射矩阵理论 | 第25-27页 |
2.2 去耦理论 | 第27-32页 |
2.3 拟合阶数和测量距离的确定 | 第32-38页 |
2.4 增益计算 | 第38-41页 |
2.5 误差考察 | 第41-42页 |
2.5.1 拟合数据点的最大误差 | 第41-42页 |
2.5.2 整体拟合误差 | 第42页 |
2.5.3 最远距离衰减值 | 第42页 |
2.6 本章小结 | 第42-45页 |
第三章 外推法增益测量的仿真验证 | 第45-61页 |
3.1 标准增益喇叭的仿真验证 | 第45-52页 |
3.1.1 喇叭天线尺寸与仿真结果 | 第45-47页 |
3.1.2 增益计算结果与误差分析 | 第47-52页 |
3.2 三个增益不同的天线的仿真验证 | 第52-56页 |
3.2.1 喇叭天线尺寸与仿真结果 | 第52-54页 |
3.2.2 增益计算结果分析 | 第54-56页 |
3.3 外推法与三天线法误差对比 | 第56-58页 |
3.4 软件设计 | 第58页 |
3.5 本章小结 | 第58-61页 |
第四章 喇叭天线增益测量的误差分析 | 第61-79页 |
4.1 天线互耦的误差分析 | 第61-62页 |
4.2 有限测量距离的误差分析 | 第62-64页 |
4.3 天线阻抗失配的误差分析 | 第64-67页 |
4.4 天线极化失配的误差分析 | 第67-71页 |
4.5 天线最大辐射方向对不准的误差分析 | 第71-73页 |
4.6 相位中心距离的误差分析 | 第73-75页 |
4.7 微波暗室环境的误差分析 | 第75-76页 |
4.8 误差结果对比 | 第76页 |
4.9 本章小结 | 第76-79页 |
第五章 外推法增益测量的测量系统及测量步骤 | 第79-83页 |
5.1 测量系统 | 第79-81页 |
5.1.1 外推系统 | 第79-80页 |
5.1.2 收发系统 | 第80-81页 |
5.2 测量步骤 | 第81-82页 |
5.3 本章小结 | 第82-83页 |
结束语 | 第83-85页 |
参考文献 | 第85-87页 |
致谢 | 第87-89页 |
作者简介 | 第89-90页 |