电子产品通用自动测试系统的设计与研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 电子产品通用自动测试系统研究意义及要求 | 第8-10页 |
| 1.2 通用自动测试技术的发展与现状 | 第10-13页 |
| 1.3 主要研究内容与本文结构 | 第13-15页 |
| 1.3.1 本文主要研究内容 | 第13-14页 |
| 1.3.2 论文结构 | 第14-15页 |
| 第二章 电子产品通用自动测试系统总体设计 | 第15-25页 |
| 2.1 自动测试系统整体框架 | 第15-20页 |
| 2.1.1 自动测试系统平面化框架 | 第15-17页 |
| 2.1.2 自动测试系统层次化框架 | 第17-20页 |
| 2.2 自动测试系统配置过程 | 第20-22页 |
| 2.2.1 自动测试系统硬件适配过程 | 第20页 |
| 2.2.2 自动测试系统软件流程 | 第20-22页 |
| 2.3 开发平台简介 | 第22-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 电子产品通用自动测试系统硬件设计 | 第25-36页 |
| 3.1 自动测试系统硬件设计思路 | 第25-26页 |
| 3.2 自动测试系统硬件框架 | 第26-27页 |
| 3.3 自动测试系统数据采集卡选型 | 第27-29页 |
| 3.4 自动测试系统自定义接口设计 | 第29-32页 |
| 3.4.1 自动测试系统自定义接口1设计 | 第29-31页 |
| 3.4.2 自动测试系统自定义接口2设计 | 第31-32页 |
| 3.5 自动测试系统测控模块 | 第32-35页 |
| 3.5.1 测控模块整体硬件框架 | 第32页 |
| 3.5.2 测控模块MCU选型 | 第32-33页 |
| 3.5.3 测控模块网络模块电路 | 第33-35页 |
| 3.5.4 测控模块电源管理部分电路 | 第35页 |
| 3.6 本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 电子产品通用自动测试系统软件设计 | 第36-73页 |
| 4.1 自动测试系统整体功能框架 | 第36-39页 |
| 4.2 自动测试系统用户界面 | 第39-42页 |
| 4.3 自动测试系统用户登录及权限管理功能 | 第42-43页 |
| 4.4 自动测试系统数据采集与处理模块 | 第43-44页 |
| 4.5 自动测试系统测试序列集 | 第44-48页 |
| 4.5.1 自动测试系统测试序列集设计思路 | 第44页 |
| 4.5.2 自动测试系统测试序列集具体实现 | 第44-48页 |
| 4.6 自动测试系统参数配置模块 | 第48-49页 |
| 4.7 自动测试系统测试报表生成模块 | 第49-50页 |
| 4.8 自动测试系统测控模块软件实现 | 第50-72页 |
| 4.8.1 自动测试系统测控模块工作流程 | 第50-51页 |
| 4.8.2 自动测试系统测控模块软件框架 | 第51-54页 |
| 4.8.3 自动测试系统测控模块参数配置模块 | 第54-62页 |
| 4.8.4 自动测试系统测控模块与上位机通信模型 | 第62-66页 |
| 4.8.5 自动测试系统测控模块与上位机通信协议 | 第66-69页 |
| 4.8.6 测控模块与待测产品测试程序通信实现 | 第69-72页 |
| 4.9 本章小结 | 第72-73页 |
| 第五章 电子产品通用自动测试系统测试实例 | 第73-81页 |
| 5.1 测试任务需求 | 第73-76页 |
| 5.2 测试实例软硬件适配 | 第76-77页 |
| 5.3 测试参数配置表说明 | 第77页 |
| 5.4 测试流程与测试序列集说明 | 第77-79页 |
| 5.5 测试实例测试报表说明 | 第79页 |
| 5.6 测试时间对比 | 第79页 |
| 5.7 本章小结 | 第79-81页 |
| 第六章 总结与展望 | 第81-84页 |
| 6.1 工作总结 | 第81-82页 |
| 6.2 本文新颖之处 | 第82-83页 |
| 6.3 问题和展望 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
