磁性材料表观缺陷自动光学检测算法的研究与实现
| 摘要 | 第5-7页 |
| abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第12-19页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第12-15页 |
| 1.2 国内外研究现状及分析 | 第15-17页 |
| 1.2.1 缺陷自动检测研究概况 | 第15-16页 |
| 1.2.2 复杂背景下缺陷检测研究概况 | 第16-17页 |
| 1.2.3 钕铁硼磁性产品缺陷检测研究现状 | 第17页 |
| 1.3 磁性材料表观缺陷检测系统难点分析 | 第17-18页 |
| 1.4 本文的研究内容及结构安排 | 第18-19页 |
| 第二章 磁性材料缺陷检测系统概述 | 第19-25页 |
| 2.1 自动光学检测系统的基本组成 | 第19页 |
| 2.2 系统总体设计 | 第19-23页 |
| 2.2.1 硬件系统 | 第19-22页 |
| 2.2.2 软件系统 | 第22-23页 |
| 2.3 磁材表观缺陷检测总体工作流程 | 第23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-25页 |
| 第三章 磁材图像分割及元件定位 | 第25-39页 |
| 3.1 图像采集 | 第25-26页 |
| 3.2 图像滤波处理 | 第26-27页 |
| 3.3 图像阈值分割阈值的选择 | 第27-33页 |
| 3.3.1 固定阈值法 | 第28-29页 |
| 3.3.2 最大类间方差法 | 第29-30页 |
| 3.3.3 自适应遍历法 | 第30-33页 |
| 3.4 元件的定位 | 第33-38页 |
| 3.4.1 模板建立 | 第33-36页 |
| 3.4.2 元件精确定位 | 第36-38页 |
| 3.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 磁材边缘缺陷检测算法的研究 | 第39-67页 |
| 4.1 边缘缺陷类型 | 第39-41页 |
| 4.2 模板匹配方法 | 第41-48页 |
| 4.2.1 图像旋转原理 | 第41-45页 |
| 4.2.2 旋转角度的确定 | 第45-46页 |
| 4.2.3 图像放缩 | 第46页 |
| 4.2.4 模板匹配方法流程 | 第46-48页 |
| 4.3 凹点搜索方法 | 第48-51页 |
| 4.4 凸包算法 | 第51-59页 |
| 4.4.1 Graham扫描法 | 第52-54页 |
| 4.4.2 Jarvis步进算法 | 第54-55页 |
| 4.4.3 基于凸包算法流程 | 第55-57页 |
| 4.4.4 对图像相减的优化 | 第57-59页 |
| 4.5 磁材边缘缺陷总流程 | 第59-61页 |
| 4.5.1 模板匹配方法局限 | 第59页 |
| 4.5.2 凹点搜索方法局限 | 第59-60页 |
| 4.5.3 凸包算法的局限 | 第60-61页 |
| 4.6 实验结果与分析 | 第61-66页 |
| 4.6.1 算法实现 | 第61-62页 |
| 4.6.2 磁材表观自动光学检测评价要素 | 第62-63页 |
| 4.6.3 检测效果 | 第63-64页 |
| 4.6.4 批量测试 | 第64-66页 |
| 4.7 本章小结 | 第66-67页 |
| 第五章 磁材面上缺陷检测算法的研究 | 第67-83页 |
| 5.1 磁材面上缺陷类型 | 第67-69页 |
| 5.2 二维GABOR滤波原理 | 第69-74页 |
| 5.2.1 参数的解释 | 第69-71页 |
| 5.2.2 二维Gabor滤波的应用 | 第71-74页 |
| 5.3 磁材面上缺陷检测算法流程 | 第74-76页 |
| 5.4 算法的加速与优化 | 第76-79页 |
| 5.4.1 多线程加速 | 第76-77页 |
| 5.4.2 OpenMP加速 | 第77页 |
| 5.4.3 CUDA加速 | 第77-79页 |
| 5.4.4 加速结果及分析 | 第79页 |
| 5.5 实验结果与分析 | 第79-82页 |
| 5.5.1 检测效果 | 第79-81页 |
| 5.5.2 批量测试 | 第81-82页 |
| 5.6 本章小结 | 第82-83页 |
| 第六章 总结与展望 | 第83-85页 |
| 6.1 总结 | 第83页 |
| 6.2 展望 | 第83-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 参考文献 | 第86-90页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第90页 |
