CCD型X射线探测器性能研究
| 内容提要 | 第4-6页 |
| 摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 目录 | 第10-13页 |
| 插图目录 | 第13-17页 |
| 表格目录 | 第17-18页 |
| 縮略语 | 第18-20页 |
| 第1章 X射线天文学简介 | 第20-24页 |
| 1.1 X射线天文观测 | 第20-21页 |
| 1.2 天体X射线发射机制 | 第21-24页 |
| 第2章 低能X射线望远镜 | 第24-28页 |
| 2.1 硬X射线调制望远镜 | 第24-25页 |
| 2.2 HXMT低能X射线望远镜 | 第25-28页 |
| 2.2.1 低能X射线望远镜科学目标 | 第25页 |
| 2.2.2 低能X射线望远镜探测器选择 | 第25-26页 |
| 2.2.3 低能X射线望远镜结构 | 第26-27页 |
| 2.2.4 低能X射线望远镜电子学系统 | 第27-28页 |
| 第3章 常用的X射线探测器 | 第28-32页 |
| 3.1 气体探测器 | 第28-29页 |
| 3.2 闪烁体探测器 | 第29-30页 |
| 3.3 半导体探测器 | 第30-32页 |
| 第4章 CCD型X射线探测器 | 第32-58页 |
| 4.1 电荷的产生 | 第32-35页 |
| 4.2 电荷的存储 | 第35页 |
| 4.3 电荷的转移 | 第35-44页 |
| 4.3.1 三相CCD的电荷转移 | 第35-38页 |
| 4.3.2 二相CCD的电荷转移 | 第38-39页 |
| 4.3.3 电荷转移机制 | 第39-41页 |
| 4.3.4 缺陷对电荷转移的影响 | 第41-44页 |
| 4.4 电荷的收集 | 第44页 |
| 4.5 扫式电荷器件：CCD236介绍 | 第44-47页 |
| 4.6 CCD探测器的噪声 | 第47-49页 |
| 4.6.1 散粒噪声 | 第47-48页 |
| 4.6.2 暗电流噪声 | 第48页 |
| 4.6.3 电荷转移噪声 | 第48-49页 |
| 4.6.4 噪声对能量分辨的影响 | 第49页 |
| 4.7 CCD探测器的性能评价方法 | 第49-53页 |
| 4.7.1 能量线性 | 第49-51页 |
| 4.7.2 能量分辨 | 第51-53页 |
| 4.7.3 读出噪声 | 第53页 |
| 4.7.4 量子效率 | 第53页 |
| 4.7.5 计数率 | 第53页 |
| 4.8 CCD236数据处理流程 | 第53-58页 |
| 第5章 北大CCD236辐照损伤分象限试验 | 第58-64页 |
| 5.1 整片CCD辐照试验前后测试结果对比 | 第59-61页 |
| 5.2 CCD236辐照后四象限单独测试 | 第61-62页 |
| 5.3 北大CCD236辐照损伤分象限试验小结 | 第62-64页 |
| 第6章 原子能院CCD236质子辐照性能试验 | 第64-68页 |
| 6.1 试验装置 | 第64-65页 |
| 6.2 试验过程 | 第65页 |
| 6.3 辐照试验后CCD测试 | 第65-67页 |
| 6.4 CCD236的质子辐照损伤试验小结 | 第67-68页 |
| 第7章 CCD236质子能量响应试验 | 第68-74页 |
| 7.1 质子能量响应模拟 | 第68-71页 |
| 7.2 质子能量沉积试验结果 | 第71-72页 |
| 7.3 质子信号分裂情况 | 第72-73页 |
| 7.4 质子能量响应试验小结 | 第73-74页 |
| 第8章 CCD236性能一致性试验 | 第74-82页 |
| 8.1 信号幅度的一致性 | 第74-76页 |
| 8.2 能量分辨的一致性 | 第76-79页 |
| 8.3 系统读出噪声一致性 | 第79-80页 |
| 8.4 CCD236性能一致性试验小结 | 第80-82页 |
| 第9章 CCD236能量标定试验 | 第82-100页 |
| 9.1 试验装置简介 | 第82-83页 |
| 9.2 X射线打靶试验结果 | 第83-90页 |
| 9.3 双晶体单色仪试验结果 | 第90-99页 |
| 9.4 CCD236能量标定试验小结 | 第99-100页 |
| 第10章 便携式制冷装置研制与相关试验方案设计 | 第100-110页 |
| 10.1 真空冷却系统 | 第100-102页 |
| 10.2 同步辐射标定试验 | 第102-105页 |
| 10.3 上海EBIT标定试验 | 第105-110页 |
| 第11章 结论与展望 | 第110-112页 |
| 参考文献 | 第112-118页 |
| 致谢 | 第118页 |
