基于ARM的滚动磨损试验机测控系统研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 注释表 | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-23页 |
| 1.1 研究背景 | 第13-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-21页 |
| 1.2.1 磨损试验机研究现状 | 第14-18页 |
| 1.2.2 试验机测控系统研究现状 | 第18-21页 |
| 1.3 本文的内容安排 | 第21-23页 |
| 第二章 滚动磨损试验机测控系统总体方案设计 | 第23-29页 |
| 2.1 滚动磨损试验机结构 | 第23-24页 |
| 2.2 测控系统方案选择 | 第24页 |
| 2.3 嵌入式测控系统方案设计 | 第24-28页 |
| 2.3.1 系统需求分析 | 第24-25页 |
| 2.3.2 处理器选择 | 第25-26页 |
| 2.3.3 操作系统选择 | 第26-27页 |
| 2.3.4 系统总体结构 | 第27-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 滚动磨损试验机测控系统硬件设计 | 第29-46页 |
| 3.1 基于 STM32 的硬件平台设计 | 第29页 |
| 3.2 主控制器模块设计 | 第29-33页 |
| 3.2.1 STM32 开发板 | 第29-30页 |
| 3.2.2 外围电路 | 第30-33页 |
| 3.3 采集模块设计 | 第33-39页 |
| 3.3.1 传感器选择 | 第33-38页 |
| 3.3.2 采集电路 | 第38-39页 |
| 3.4 控制模块设计 | 第39-42页 |
| 3.4.1 控制元件 | 第39-41页 |
| 3.4.2 控制电路 | 第41-42页 |
| 3.5 人机交互模块设计 | 第42-43页 |
| 3.6 电源模块设计 | 第43-44页 |
| 3.7 本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 滚动磨损试验机测控系统软件设计 | 第46-59页 |
| 4.1 基于 uC/OS-Ⅱ的软件平台的设计 | 第46-47页 |
| 4.2 操作系统移植 | 第47-49页 |
| 4.2.1 uC/OS-Ⅱ移植 | 第47-48页 |
| 4.2.2 uC/GUI 配置 | 第48-49页 |
| 4.3 驱动程序设计 | 第49-51页 |
| 4.3.1 串口驱动 | 第50页 |
| 4.3.2 ADC 驱动 | 第50-51页 |
| 4.4 应用程序设计 | 第51-58页 |
| 4.4.1 任务划分 | 第52页 |
| 4.4.2 主任务设计 | 第52-54页 |
| 4.4.3 采集任务设计 | 第54页 |
| 4.4.4 控制任务设计 | 第54-55页 |
| 4.4.5 触摸任务设计 | 第55-56页 |
| 4.4.6 显示任务设计 | 第56-57页 |
| 4.4.7 保存任务设计 | 第57-58页 |
| 4.5 小结 | 第58-59页 |
| 第五章 滚动磨损试验机测控系统控制算法研究 | 第59-68页 |
| 5.1 PID 控制 | 第59-61页 |
| 5.1.1 数字式 PID | 第59-60页 |
| 5.1.2 参数选择 | 第60-61页 |
| 5.2 模糊 PID 控制设计 | 第61-65页 |
| 5.2.1 输入参数的模糊化 | 第62-63页 |
| 5.2.2 模糊控制规则设计 | 第63-64页 |
| 5.2.3 输出参数的清晰化 | 第64-65页 |
| 5.3 系统控制效果 | 第65-67页 |
| 5.4 小结 | 第67-68页 |
| 第六章 总结与展望 | 第68-69页 |
| 6.1 总结 | 第68页 |
| 6.2 展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第73页 |
