| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 CICC导体简介 | 第11-12页 |
| 1.3 低温超导材料Nb_3Sn和高温超导材料Bi-2212简介 | 第12-13页 |
| 1.4 目前对超导材料应变性能研究现状 | 第13-17页 |
| 1.5 本文的主要研究内容 | 第17-18页 |
| 第2章 轴向应变性能研究 | 第18-33页 |
| 2.1 引言 | 第18页 |
| 2.2 轴向应变测试系统 | 第18-22页 |
| 2.2.1 测试系统结构 | 第18-19页 |
| 2.2.2 轴向应变测试装置 | 第19-22页 |
| 2.3 不同热处理制度Bi-2212导线轴向应变性能研究 | 第22-31页 |
| 2.3.1 临界性能测试 | 第22-25页 |
| 2.3.2 机械性能研究 | 第25-29页 |
| 2.3.3 截面微观结构研究 | 第29-31页 |
| 2.4 本章小结 | 第31-33页 |
| 第3章 弯曲应变及局部接触应变临界性能研究 | 第33-64页 |
| 3.1 引言 | 第33页 |
| 3.2 弯曲及局部接触应变临界性能测试系统 | 第33-57页 |
| 3.2.1 测试系统结构 | 第33-36页 |
| 3.2.2 弯曲应变临界性能测试装置 | 第36-55页 |
| 3.2.3 局部接触应变临界性能测试装置 | 第55-57页 |
| 3.3 两类超导材料弯曲应变临界性能研究 | 第57-63页 |
| 3.3.1 样品准备 | 第57-59页 |
| 3.3.2 Nb_3Sn样品测试结果及讨论 | 第59-61页 |
| 3.3.3 Bi-2212样品测试结果及讨论 | 第61-63页 |
| 3.4 本章小结 | 第63-64页 |
| 第4章 全文总结 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第69页 |