光电耦合器抗辐射能力噪声无损评价技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·研究动态 | 第7-8页 |
| ·研究目的和意义 | 第8-9页 |
| ·论文结构 | 第9-11页 |
| 第二章 光电耦合器辐射损伤机理及评价原理研究 | 第11-27页 |
| ·光电耦合器工作原理 | 第11-13页 |
| ·光电耦合器辐射损伤机理与模型 | 第13-22页 |
| ·光电耦合器辐射损伤机理 | 第13-15页 |
| ·光电耦合器辐射电参数退化 | 第15-19页 |
| ·光电耦合器电离辐射损伤电流传输比模型 | 第19-22页 |
| ·光电耦合器辐射损伤噪声评价原理 | 第22-25页 |
| ·光电耦合器噪声产生机理 | 第22-24页 |
| ·光电耦合器辐射噪声变化 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-27页 |
| 第三章 光电耦合器辐射损伤评价参量研究 | 第27-37页 |
| ·实验样品和实验条件 | 第27页 |
| ·参量测试平台 | 第27-28页 |
| ·辐照实验结果分析 | 第28-32页 |
| ·电学测试结果分析 | 第28-30页 |
| ·噪声测试结果分析 | 第30-32页 |
| ·光电耦合器辐射损伤评价参量优选 | 第32-35页 |
| ·灵敏评价参量优选原则 | 第32-33页 |
| ·电学参量与噪声参量对比 | 第33页 |
| ·噪声灵敏评价参量优选 | 第33-35页 |
| ·本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 光电耦合器抗辐射能力噪声无损评价技术研究 | 第37-63页 |
| ·pn结材料抗辐射能力噪声无损评价技术 | 第37-49页 |
| ·评价模型 | 第37-39页 |
| ·评价模型验证 | 第39-41页 |
| ·参数提取方法 | 第41-42页 |
| ·评价判据 | 第42-46页 |
| ·评价流程 | 第46-49页 |
| ·光电耦合器抗辐射能力噪声无损评价技术 | 第49-58页 |
| ·光电耦合器抗辐射能力噪声评价模型 | 第49-52页 |
| ·评价模型验证 | 第52-53页 |
| ·参数提取方法 | 第53-54页 |
| ·评价判据 | 第54-56页 |
| ·评价流程 | 第56-58页 |
| ·噪声无损评价技术应用 | 第58-61页 |
| ·二极管筛选 | 第58-60页 |
| ·光电耦合器筛选 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-63页 |
| 第五章 结论和展望 | 第63-65页 |
| ·主要研究工作及结论 | 第63页 |
| ·展望 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 作者在读研期间的成果 | 第71-72页 |
