| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-10页 |
| 1.2 当前的研究现状 | 第10页 |
| 1.3 本文的主要工作 | 第10-11页 |
| 1.4 本文的章节安排 | 第11-12页 |
| 第二章 集成电路的形式化验证 | 第12-26页 |
| 2.1 形式化验证的相关技术 | 第12-15页 |
| 2.1.1 形式化验证的背景 | 第12-13页 |
| 2.1.2 形式化验证 | 第13-14页 |
| 2.1.3 形式化验证方法 | 第14-15页 |
| 2.2 模型检测概述 | 第15-24页 |
| 2.2.1 模型检测基本原理 | 第15页 |
| 2.2.2 模型检测的步骤 | 第15-17页 |
| 2.2.3 Kripke结构 | 第17-18页 |
| 2.2.4 时态逻辑(Temporal Logics) | 第18-19页 |
| 2.2.5 计算树逻辑CTL* | 第19-21页 |
| 2.2.6 线性时态逻辑LTL和分支时态逻辑CTL | 第21-23页 |
| 2.2.7 公正性约束 | 第23-24页 |
| 2.3 进行安全路径验证的必要性 | 第24-25页 |
| 2.4 小结 | 第25-26页 |
| 第三章 模型检测工具NuSMV | 第26-31页 |
| 3.1 NuSMV简介 | 第26-27页 |
| 3.2 NuSMV基本体系结构 | 第27-28页 |
| 3.3 NuSMV语言介绍 | 第28-30页 |
| 3.4 小结 | 第30-31页 |
| 第四章 基于污迹追踪的安全路径验证方法 | 第31-40页 |
| 4.1 标记数据流的方法 | 第31-33页 |
| 4.1.1 RTL代码污迹追踪技术 | 第32-33页 |
| 4.1.2 黑盒抽象化污迹追踪技术 | 第33页 |
| 4.2 黑盒抽象化污迹标记的验证方法 | 第33-39页 |
| 4.2.1 简单逻辑门的污迹标记验证方法 | 第34-36页 |
| 4.2.2 常见触发器的污迹标记验证方法 | 第36-39页 |
| 4.3 小结 | 第39-40页 |
| 第五章 Verilog转为SMV自动化工具链的设计和实现 | 第40-47页 |
| 5.1 工具链的基本结构 | 第40-41页 |
| 5.2 污迹标记的SMV设计 | 第41-43页 |
| 5.2.1 简单逻辑门的污迹标记SMV设计 | 第41-42页 |
| 5.2.2 常见触发器的污迹标记SMV设计 | 第42-43页 |
| 5.3 门级Verilog转化为被标记过的SMV代码 | 第43-45页 |
| 5.3.1 数据结构的设计 | 第43-44页 |
| 5.3.2 转换程序的设计 | 第44-45页 |
| 5.4 小结 | 第45-47页 |
| 第六章 总结和展望 | 第47-49页 |
| 6.1 全文总结 | 第47页 |
| 6.2 研究展望 | 第47-49页 |
| 参考文献 | 第49-52页 |
| 在学期间的研究成果 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53页 |
