| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 目录 | 第9-11页 |
| 1 绪论 | 第11-31页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第11-14页 |
| 1.2 结构健康监测技术的发展及研究现状 | 第14-20页 |
| 1.2.1 结构健康监测技术的发展 | 第14-16页 |
| 1.2.2 结构健康监测系统的组成 | 第16页 |
| 1.2.3 结构健康监测技术的现状与展望 | 第16-20页 |
| 1.3 压电阻抗法与传统无损检测方法的比较 | 第20-22页 |
| 1.4 基于压电阻抗的结构健康监测技术国内外研究概述 | 第22-29页 |
| 1.4.1 压电阻抗技术国外研究现状 | 第22-27页 |
| 1.4.2 压电阻抗技术国内研究现状 | 第27-29页 |
| 1.5 本文研究的主要内容 | 第29-31页 |
| 2 压电阻抗技术基本原理 | 第31-40页 |
| 2.1 智能材料 | 第31-34页 |
| 2.2 压电效应 | 第34-35页 |
| 2.3 压电方程 | 第35-36页 |
| 2.4 压电元件的主要性能参数 | 第36-39页 |
| 2.5 本章小结 | 第39-40页 |
| 3 温度对阻抗信号影响实验研究 | 第40-55页 |
| 3.1 引言 | 第40-41页 |
| 3.2 温度对电导纳的影响的基本原理 | 第41页 |
| 3.3 实验研究 | 第41-44页 |
| 3.4 实验结果及分析 | 第44-49页 |
| 3.5 温度对阻抗信号影响的有限元分析 | 第49-51页 |
| 3.6 有限元结果分析 | 第51-53页 |
| 3.7 本章小结 | 第53-55页 |
| 4 基于压电阻抗的裂缝发展实验研究 | 第55-76页 |
| 4.1 引言 | 第55-56页 |
| 4.2 裂缝深度发展实验研究 | 第56-66页 |
| 4.2.1 实验研究 | 第56-58页 |
| 4.2.2 实验结果及其分析 | 第58-62页 |
| 4.2.3 传统损伤指标有效性研究 | 第62-66页 |
| 4.3 裂缝深度发展有限元研究 | 第66-68页 |
| 4.4 裂缝位置发展实验研究 | 第68-73页 |
| 4.4.1 实验材料及装置 | 第68-69页 |
| 4.4.2 实验操作 | 第69-70页 |
| 4.4.3 实验结果及其分析 | 第70-73页 |
| 4.5 裂缝位置发展有限元研究 | 第73-75页 |
| 4.6 本章小结 | 第75-76页 |
| 5 总结与展望 | 第76-79页 |
| 5.1 本文总结 | 第76-77页 |
| 5.2 研究展望 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-84页 |
| 附录 | 第84页 |