| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 课题的来源及研究的目的和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 基于性能退化的产品可靠性国内外研究现状 | 第9-11页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第9-10页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 电子系统寿命预测方法的国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.3.1 国外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3.2 国内研究现状 | 第13-14页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第14-15页 |
| 第2章 LED驱动电源关键元器件性能参数分析 | 第15-26页 |
| 2.1 引言 | 第15页 |
| 2.2 LED驱动电源的基本原理 | 第15-16页 |
| 2.3 LED驱动电源中关键元器件的确定 | 第16-18页 |
| 2.4 LED驱动电源中关键元器件性能退化的研究 | 第18-23页 |
| 2.4.1 描述元器件性能退化的经典理论模型 | 第18-20页 |
| 2.4.2 电解电容的失效机理及其退化模型 | 第20-21页 |
| 2.4.3 MOSFET的失效机理及其退化模型 | 第21-22页 |
| 2.4.4 功率二极管的失效机理及其退化模型 | 第22-23页 |
| 2.5 LED驱动电源中关键元器件性能退化影响分析 | 第23-25页 |
| 2.6 本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 LED驱动电源性能退化参数监测及寿命预测系统研制 | 第26-35页 |
| 3.1 引言 | 第26页 |
| 3.2 系统总体方案 | 第26-27页 |
| 3.2.1 系统功能及技术指标 | 第26页 |
| 3.2.2 总体方案 | 第26-27页 |
| 3.3 系统的硬件 | 第27-31页 |
| 3.3.1 信号调理电路 | 第28页 |
| 3.3.2 信号采集电路 | 第28-30页 |
| 3.3.3 电压和电流互感电路 | 第30页 |
| 3.3.4 温度测量电路 | 第30-31页 |
| 3.3.5 信号切换电路 | 第31页 |
| 3.4 系统的软件 | 第31-34页 |
| 3.4.1 下位机程序 | 第31-34页 |
| 3.4.2 上位机软件 | 第34页 |
| 3.6 本章小结 | 第34-35页 |
| 第4章 LED驱动电源的性能退化实验 | 第35-43页 |
| 4.1 引言 | 第35页 |
| 4.2 LED驱动电源性能退化实验方案 | 第35页 |
| 4.3 退化数据处理 | 第35-42页 |
| 4.3.1 基于小波变换的消噪方法 | 第36-37页 |
| 4.3.2 基于SVD的小波消噪方法 | 第37-38页 |
| 4.3.3 数据处理结果与分析 | 第38-42页 |
| 4.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 第5章 LED驱动电源寿命预测方法 | 第43-69页 |
| 5.1 引言 | 第43页 |
| 5.2 基于B-S模型的LED驱动电源寿命预测 | 第43-51页 |
| 5.2.1 加速寿命试验中的B-S分布模型 | 第43-46页 |
| 5.2.2 基于Wiener过程的LED驱动电源的B-S失效分布 | 第46-48页 |
| 5.2.3 基于B-S模型的LED驱动电源寿命预测 | 第48-51页 |
| 5.3 LED驱动电源基于性能退化的可靠性评估 | 第51-59页 |
| 5.3.1 LED驱动电源的加速退化模型 | 第51-52页 |
| 5.3.2 LED驱动电源加速退化模型参数的估计 | 第52-55页 |
| 5.3.3 LED驱动电源的退化模型建立 | 第55-56页 |
| 5.3.4 LED驱动电源的可靠性评估 | 第56-59页 |
| 5.4 LED驱动电源中铝电解电容的寿命预测 | 第59-68页 |
| 5.4.1 铝电解电容退化参数的获取方法 | 第59-63页 |
| 5.4.2 铝电解电容的退化规律 | 第63-65页 |
| 5.4.3 铝电解电容的寿命预测 | 第65-68页 |
| 5.5 本章小结 | 第68-69页 |
| 结论 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-75页 |
| 附录 | 第75-77页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79页 |
