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Ti-Si-N纳米结构形成的KMC模拟仿真

摘要第5-6页
abstract第6页
目录第7-9页
1 绪论第9-20页
    1.1 Ti-Si-N 薄膜中主要分子结构及特性第10-14页
        1.1.1 Ti-N 晶体结构和性能第10-11页
        1.1.2 Si_3N_4晶体结构和性能第11-12页
        1.1.3 Ti-Si-N 薄膜的结构和特性第12-14页
    1.2 课题研究背景第14-15页
    1.3 Ti-Si-N 薄膜存在的问题第15-16页
    1.4 采用动力学蒙特卡罗研究的背景第16-17页
    1.5 课题研究的目的及意义第17-20页
        1.5.1 选题目的第17页
        1.5.2 选题的意义第17-18页
        1.5.3 研究内容第18-20页
2 薄膜生长理论第20-25页
    2.1 外延生长基本概念第20-21页
    2.3 表面动力学第21-22页
    2.4 薄膜的生长模型第22-24页
        2.4.1 薄膜的生长模型第22-23页
        2.4.2 生长模式之间的转变第23-24页
    2.5 过渡态理论第24-25页
3 计算机模拟第25-32页
    3.1 第一原理计算第25页
    3.2 分子动力学方法(MD)第25-26页
    3.3 蒙特卡罗方法第26-27页
    3.4 动力学蒙特卡洛(KMC)第27-29页
    3.5 阿仑尼乌斯公式第29-30页
    3.6 周期性边界条件和马可夫链第30-32页
4 KMC 模拟仿真势能选择第32-38页
    4.1 第一原理计算势能库第32-33页
    4.2 组合式激活能赋值法第33-35页
    4.3 Ti 和 N 位置设定第35页
    4.4 计算机仿真的实现第35-38页
5 岛形貌仿真结果第38-45页
    5.1 单岛下落形貌模型及随机下落设定第38页
    5.2 单岛下落形貌结果分析第38-42页
    5.3 岛形貌改变分析第42-45页
6 双岛下落沉积仿真第45-50页
    6.1 双岛下落沉积仿真模型及随机下落设定第45页
    6.2 在沉积温度对岛合并的影响第45-47页
    6.3 Si 含量的不同对岛相遇的影响第47-50页
7 沉积率和自由下落模拟第50-56页
    7.1 沉积率模拟第50-52页
    7.2 自由下落形貌模拟第52-56页
8 结论和展望第56-59页
    8.1 沉积温度的影响第56页
    8.2 沉积速率的影响第56-57页
    8.3 Si 含量的影响第57-59页
参考文献第59-64页
致谢第64页

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