复杂曲面在位测量系统开发及实验研究
| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-27页 |
| 1.1 课题来源 | 第11页 |
| 1.2 课题研究背景及意义 | 第11-15页 |
| 1.3 复杂曲面精密测量技术发展综述 | 第15-25页 |
| 1.3.1 复杂曲面测量技术发展状况 | 第15-23页 |
| 1.3.2 复杂曲面在位测量技术发展现状 | 第23-25页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第25-27页 |
| 第2章 测量平台硬件系统开发 | 第27-39页 |
| 2.1 接触式在位测量原理 | 第27-29页 |
| 2.1.1 复杂曲面面型测量评价指标 | 第27-28页 |
| 2.1.2 接触式面型测量原理 | 第28-29页 |
| 2.2 在位测量系统硬件系统构成 | 第29-38页 |
| 2.2.1 三维精密运动平台 | 第29-31页 |
| 2.2.2 CLIPPER多轴运动控制卡 | 第31-32页 |
| 2.2.3 KRYENCE位移传感器测头 | 第32-34页 |
| 2.2.4 GT2-71MCN放大器单元 | 第34-35页 |
| 2.2.5 ART数据采集卡 | 第35-37页 |
| 2.2.6 电源模块及系统整体连接 | 第37-38页 |
| 2.3 本章小结 | 第38-39页 |
| 第3章 测量控制系统软件程序开发 | 第39-51页 |
| 3.1 测量系统总体测控方案规划 | 第39-40页 |
| 3.2 在位测量系统数据采集软件总体框架 | 第40-45页 |
| 3.2.1 数据采集软件的开发环境 | 第41-42页 |
| 3.2.2 数据采集软件的开发流程 | 第42-45页 |
| 3.3 数据采集软件关键模块分析与开发 | 第45-50页 |
| 3.3.1 关键函数功能说明 | 第45-47页 |
| 3.3.2 工作台运动控制模块 | 第47-48页 |
| 3.3.3 测头控制模块 | 第48-49页 |
| 3.3.4 自动对心模块 | 第49-50页 |
| 3.3.5 自动测量模块 | 第50页 |
| 3.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第4章 在位测量数据分析及处理方法研究 | 第51-65页 |
| 4.1 在位测量系统精度分析 | 第51-52页 |
| 4.1.1 在位测量系统精度的主要影响因素分析 | 第51-52页 |
| 4.1.2 测量系统精度提高的措施 | 第52页 |
| 4.2 在位测量系统轨迹规划研究 | 第52-59页 |
| 4.2.1 测头扫描路径规划研究 | 第53页 |
| 4.2.2 采样点分布规划研究 | 第53-55页 |
| 4.2.3 测量点个数确定 | 第55-56页 |
| 4.2.4 测量数据曲线拟合 | 第56-59页 |
| 4.3 在位测量系统测量误差分离技术研究 | 第59-64页 |
| 4.3.1 工件装夹倾斜误差 | 第60-61页 |
| 4.3.2 运动台导轨误差 | 第61页 |
| 4.3.3 测量数据半径补偿 | 第61-63页 |
| 4.3.4 测量数据坏点剔除 | 第63-64页 |
| 4.3.5 残余系统误差 | 第64页 |
| 4.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 第5章 在位测量实验研究 | 第65-77页 |
| 5.1 测量系统标定实验 | 第65-72页 |
| 5.1.1 测头垂直校正实验 | 第65-67页 |
| 5.1.2 测头单点重复测量实验 | 第67-69页 |
| 5.1.3 测头平面测量实验 | 第69-70页 |
| 5.1.4 测头对心实验 | 第70-72页 |
| 5.2 在位测量实验 | 第72-75页 |
| 5.2.1 凸面在位测量实验 | 第72-73页 |
| 5.2.2 凹面在位测量实验 | 第73-75页 |
| 5.3 本章小结 | 第75-77页 |
| 第6章 结论与展望 | 第77-79页 |
| 6.1 本文总结 | 第77-78页 |
| 6.2 研究展望 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-87页 |
| 致谢 | 第87-88页 |
