| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 课题来源和研究的目的及意义 | 第9页 |
| 1.2 测试系统研究现状 | 第9-12页 |
| 1.2.1 测试系统概述 | 第9-10页 |
| 1.2.2 测试系统的发展状况 | 第10-11页 |
| 1.2.3 虚拟仪器技术的发展 | 第11-12页 |
| 1.3 串行通讯技术的研究状况 | 第12-14页 |
| 1.3.1 串行通讯技术概述 | 第12-13页 |
| 1.3.2 串行总线发展状况 | 第13-14页 |
| 1.4 主要研究内容及论文结构 | 第14-16页 |
| 第2章 测试系统总体方案设计 | 第16-28页 |
| 2.1 测试系统需求分析 | 第16-19页 |
| 2.1.1 硬件功能和技术指标要求 | 第16-18页 |
| 2.1.2 测试软件要求 | 第18-19页 |
| 2.2 系统硬件总体方案设计 | 第19-25页 |
| 2.2.1 供电组合 | 第20-21页 |
| 2.2.2 PXI机箱组合 | 第21-24页 |
| 2.2.3 频率源机箱组合 | 第24-25页 |
| 2.3 系统上位机软件总体方案设计 | 第25-26页 |
| 2.3.1 软件开发平台的选择 | 第25页 |
| 2.3.2 软件总体结构设计 | 第25-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-28页 |
| 第3章 LVDS通讯卡硬件设计 | 第28-53页 |
| 3.1 电路设计中的信号完整性问题 | 第28-30页 |
| 3.2 LVDS通讯卡硬件详细设计 | 第30-37页 |
| 3.2.1 硬件设计 | 第30-31页 |
| 3.2.2 固件设计 | 第31-36页 |
| 3.2.3 LVDS信号存储方案设计 | 第36-37页 |
| 3.3 LVDS串行数据传输设计与实现 | 第37-43页 |
| 3.3.1 LVDS基本原理 | 第37-38页 |
| 3.3.2 LVDS传输设计方案 | 第38-41页 |
| 3.3.3 LVDS信号传输质量分析 | 第41-43页 |
| 3.4 LVDS板卡信号完整性仿真分析 | 第43-52页 |
| 3.4.1 LVDS差分信号传输的信号完整性仿真实验 | 第43-50页 |
| 3.4.2 SDRAM控制信号传输的信号完整性仿真实验 | 第50-52页 |
| 3.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 第4章 系统上位机软件的设计 | 第53-70页 |
| 4.1 仪器驱动程序设计 | 第53-56页 |
| 4.2 系统管理界面设计 | 第56-58页 |
| 4.3 多线程技术框架设计 | 第58-59页 |
| 4.4 手动测试软件设计 | 第59-69页 |
| 4.4.1 同步485通讯程序设计 | 第60-63页 |
| 4.4.2 异步422通讯程序设计 | 第63-65页 |
| 4.4.3 LVDS通讯接收程序设计 | 第65-66页 |
| 4.4.4 同步422通讯程序设计 | 第66-67页 |
| 4.4.5 数字I/O模块程序设计 | 第67-69页 |
| 4.5 本章小结 | 第69-70页 |
| 第5章 系统调试与功能验证 | 第70-94页 |
| 5.1 测试方案设计与标准仪器选择 | 第70-71页 |
| 5.2 硬件调试与验证 | 第71-88页 |
| 5.2.1 同步485通讯卡调试 | 第71-73页 |
| 5.2.2 同步/异步422通讯卡调试 | 第73-77页 |
| 5.2.3 LVDS通讯卡接收功能调试 | 第77-84页 |
| 5.2.4 多通道数字I/O卡调试 | 第84-87页 |
| 5.2.5 外购板卡功能调试 | 第87-88页 |
| 5.3 测试系统联合调试 | 第88-93页 |
| 5.3.1 整体功能测试 | 第89-93页 |
| 5.3.2 测试结果分析 | 第93页 |
| 5.4 本章小结 | 第93-94页 |
| 结论 | 第94-95页 |
| 参考文献 | 第95-100页 |
| 致谢 | 第100页 |