摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第10-18页 |
1.1 课题背景及研究目的意义 | 第10-11页 |
1.2 中空硅铝胶及其制备方法概述 | 第11-15页 |
1.2.1 中空硅铝胶概述 | 第11页 |
1.2.2 制备方法概述 | 第11-15页 |
1.3 增透薄膜的研究现状 | 第15-16页 |
1.4 透明导电薄膜的研究现状 | 第16-17页 |
1.5 本文主要研究内容 | 第17-18页 |
第2章 实验材料及表征方法 | 第18-23页 |
2.1 主要实验药品及试剂 | 第18页 |
2.2 主要实验仪器及设备 | 第18-19页 |
2.3 中空硅铝胶的制备及表征 | 第19-23页 |
2.3.1 中空硅铝胶的制备 | 第19-20页 |
2.3.2 化学反应原理 | 第20页 |
2.3.3 X射线衍射分析(XRD) | 第20页 |
2.3.4 场发射扫描电子显微镜分析(SEM) | 第20-21页 |
2.3.5 能谱仪分析(EDX) | 第21页 |
2.3.6 透射电子显微镜分析(TEM) | 第21页 |
2.3.7 傅里叶变换红外光谱分析 | 第21页 |
2.3.8 数显粘度计分析 | 第21页 |
2.3.9 热重分析 | 第21-22页 |
2.3.10 激光粒度仪分析 | 第22页 |
2.3.11 紫外-可见近红外分光光度计分析 | 第22页 |
2.3.12 Zeta电位仪分析 | 第22-23页 |
第3章 中空硅铝胶的制备及表征 | 第23-39页 |
3.1 模板法制备中空硅铝胶 | 第23-27页 |
3.1.1 分散剂的种类及用量对聚苯乙烯微球的影响 | 第23-25页 |
3.1.2 反应时间及温度对聚苯乙烯微球的影响 | 第25-26页 |
3.1.3 正硅酸乙酯浓度对包覆情况的影响 | 第26-27页 |
3.2 微乳液法制备中空硅铝胶 | 第27-33页 |
3.2.1 分散剂的种类及用量的影响 | 第27-28页 |
3.2.2 油相种类及浓度的影响 | 第28-29页 |
3.2.3 正硅酸乙酯浓度的影响 | 第29-30页 |
3.2.4 硅铝比的影响 | 第30-32页 |
3.2.5 反应温度的影响 | 第32页 |
3.2.6 p H值的影响 | 第32页 |
3.2.7 搅拌速率及超声时间的影响 | 第32-33页 |
3.3 放大实验研究及其表征 | 第33-38页 |
3.3.1 粘度分析 | 第34-35页 |
3.3.2 X射线衍射分析(XRD) | 第35页 |
3.3.3 傅里叶变换红外光谱分析(FTIR) | 第35-36页 |
3.3.4 激光粒度仪分析 | 第36-37页 |
3.3.5 热重分析(TGA) | 第37-38页 |
3.3.6 Zeta电位分析 | 第38页 |
3.4 本章小结 | 第38-39页 |
第4章 中空硅铝胶在增透膜及透明导电薄膜中的应用研究 | 第39-64页 |
4.1 中空硅铝胶在增透膜中的应用研究 | 第39-47页 |
4.1.1 增透膜增透原理 | 第39-40页 |
4.1.2 增透膜的制备及表征 | 第40-41页 |
4.1.3 胶体浓度对增透效果影响 | 第41-42页 |
4.1.4 旋涂速率对增透效果影响 | 第42-44页 |
4.1.5 硅铝源对增透效果影响 | 第44-45页 |
4.1.6 旋涂次数对增透效果影响 | 第45-47页 |
4.2 中空硅铝胶在透明导电膜中的应用研究 | 第47-62页 |
4.2.1 透明导电薄膜的制备及表征 | 第47-48页 |
4.2.2 中空硅铝胶Zeta电位对导电薄膜的影响 | 第48-50页 |
4.2.3 涂膜方式对透明导电薄膜的影响 | 第50-53页 |
4.2.4 胶体浓度对透明导电薄膜的影响 | 第53-55页 |
4.2.5 银纳米线浓度对透明导电薄膜的影响 | 第55-58页 |
4.2.6 透光率与表面电阻值的关系 | 第58-60页 |
4.2.7 树脂对透明导电薄膜的影响 | 第60-61页 |
4.2.8 固化温度对透明导电薄膜的影响 | 第61-62页 |
4.3 本章小结 | 第62-64页 |
结论 | 第64-65页 |
参考文献 | 第65-72页 |
致谢 | 第72页 |