摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
1 绪论 | 第10-16页 |
1.1 真空断路器的发展历史及应用现状 | 第10-11页 |
1.2 断路器检修体制的演变 | 第11-13页 |
1.2.1 断路器检修体制的演变过程 | 第11-12页 |
1.2.2 断路器状态检修现状 | 第12-13页 |
1.3 真空断路器状态检修研究现状及存在的问题 | 第13-14页 |
1.4 本文主要内容和章节安排 | 第14-16页 |
1.4.1 本文主要内容 | 第14页 |
1.4.2 本文章节安排 | 第14-16页 |
2 真空断路器状态评估特征量分析 | 第16-26页 |
2.1 真空断路器基本结构 | 第16-17页 |
2.2 真空断路器状态评估特征量 | 第17-20页 |
2.2.1 真空度 | 第17-19页 |
2.2.2 分合闸线圈电流 | 第19-20页 |
2.2.3 触头温度 | 第20页 |
2.2.4 电寿命 | 第20页 |
2.3 状态评估特征量检测方法 | 第20-22页 |
2.3.1 真空度检测方法 | 第20-21页 |
2.3.2 触头温度测量方法 | 第21-22页 |
2.4 分/合闸线圈电流特征量的提取算法 | 第22-24页 |
2.5 改进估计电寿命的方法 | 第24-25页 |
2.6 本章小结 | 第25-26页 |
3 基于FPGA的真空断路器状态评估系统设计与实现 | 第26-44页 |
3.1 特征量的采集 | 第26-29页 |
3.1.1 真空度的采集 | 第26-28页 |
3.1.2 分/合闸线圈电流的采集 | 第28页 |
3.1.3 触头温度的采集 | 第28-29页 |
3.2 信号采集系统硬件设计 | 第29-33页 |
3.2.1 在线监测系统硬件设计概述 | 第29-31页 |
3.2.2 信号量采样电路 | 第31-33页 |
3.3 主控系统硬件设计 | 第33-37页 |
3.3.1 FPGA及其最小系统 | 第33-34页 |
3.3.2 电源模块电路设计 | 第34-35页 |
3.3.3 复位电路设计 | 第35-36页 |
3.3.4 时钟电路设计 | 第36-37页 |
3.3.5 附加功能 | 第37页 |
3.4 主控系统软件设计 | 第37-41页 |
3.4.1 主程序设计 | 第38-39页 |
3.4.2 系统初始化 | 第39页 |
3.4.3 数据读取子程序 | 第39-40页 |
3.4.4 数据处理子程序 | 第40-41页 |
3.5 实验测试 | 第41-43页 |
3.5.1 分/合闸线圈电流实验 | 第41-42页 |
3.5.2 真空度实验 | 第42-43页 |
3.6 本章小结 | 第43-44页 |
4 基于LS-SVM的真空断路器状态评估算法 | 第44-53页 |
4.1 LS-SVM理论介绍 | 第44-46页 |
4.2 基于混合核函数的SVM参数优化 | 第46-47页 |
4.3 实例分析 | 第47-52页 |
4.4 本章小结 | 第52-53页 |
5 基于最优组合权重模糊理论的真空断路器状态评估算法 | 第53-63页 |
5.1 模糊综合评判模型的建立 | 第53-57页 |
5.2 隶属函数的确定 | 第57-58页 |
5.3 算例仿真 | 第58-61页 |
5.4 实例分析 | 第61-62页 |
5.5 本章小结 | 第62-63页 |
结论 | 第63-65页 |
参考文献 | 第65-69页 |
攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第69-70页 |
致谢 | 第70-71页 |