| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 偏光片简介 | 第9-10页 |
| 1.2 偏光片外观缺陷 | 第10-11页 |
| 1.3 偏光片外观缺陷检测技术研究进展 | 第11-15页 |
| 1.3.1 人工检测 | 第11-12页 |
| 1.3.2 机器视觉检测技术 | 第12-13页 |
| 1.3.3 外观缺陷在线检测技术AOI | 第13页 |
| 1.3.4 偏光片外观缺陷离线检测技术 | 第13-15页 |
| 1.4 偏光片透明缺陷 | 第15页 |
| 1.5 结构光检测技术 | 第15-16页 |
| 1.6 本章小结 | 第16-17页 |
| 第2章 偏光片检测平台的设计 | 第17-23页 |
| 2.1 光源的选取 | 第17页 |
| 2.2 相机的选取 | 第17-18页 |
| 2.3 镜头的选取 | 第18-19页 |
| 2.4 检测平台实物 | 第19-22页 |
| 2.5 主动光扫描法 | 第22页 |
| 2.6 本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 成像机理研究 | 第23-30页 |
| 3.1 仿真软件（Tracepro） | 第23页 |
| 3.2 仿真系统 | 第23-24页 |
| 3.3 仿真系统参数对缺陷的成像效果研究 | 第24-30页 |
| 3.3.1 缺陷的成像增强 | 第25-26页 |
| 3.3.2 缺陷随像距变化的成像规律 | 第26-29页 |
| 3.3.3 缺陷随深度变化的成像规律 | 第29-30页 |
| 第4章 极细微透明缺陷的检测 | 第30-37页 |
| 4.1 极细微透明缺陷检测 | 第30-31页 |
| 4.2 偏光片的结构光过度曝光 | 第31-32页 |
| 4.3 过度曝光条纹宽度的选取 | 第32-34页 |
| 4.4 实验结果 | 第34-36页 |
| 4.5 本章小结 | 第36-37页 |
| 第5章 图像处理方法与检测结果 | 第37-63页 |
| 5.1 偏光片条纹结构光缺陷图片的特点 | 第37-38页 |
| 5.2 基于Rangefilt滤波的图像处理方法 | 第38-48页 |
| 5.2.1 Rangefilt滤波原理 | 第38页 |
| 5.2.2 Rangefilt滤波参数的选择 | 第38-42页 |
| 5.2.3 基于Rangefilt滤波的偏光片缺陷检测 | 第42-46页 |
| 5.2.4 缺陷识别与提取 | 第46-48页 |
| 5.3 基于标准差滤波的图像处理方法 | 第48-57页 |
| 5.3.1 标准差滤波原理 | 第48-49页 |
| 5.3.2 标准差滤波参数的选择 | 第49-51页 |
| 5.3.3 基于标准差滤波的偏光片缺陷检测 | 第51-55页 |
| 5.3.4 缺陷识别与提取 | 第55-57页 |
| 5.4 极细微透明缺陷的图像处理 | 第57-60页 |
| 5.4.1 标准差滤波处理极细微透明缺陷 | 第57-58页 |
| 5.4.2 Rangefilt滤波处理极细微透明缺陷 | 第58-60页 |
| 5.5 算法对比 | 第60-61页 |
| 5.6 本章小结 | 第61-63页 |
| 第6章 压痕深度测量方法 | 第63-70页 |
| 6.1 偏光片压痕（透明）缺陷样品制作方法 | 第63-64页 |
| 6.2 超景深显微镜 | 第64-65页 |
| 6.3 透明缺陷样品制作方法的总结 | 第65-67页 |
| 6.4 缺陷深度的无损测量方法 | 第67-69页 |
| 6.5 本章小结 | 第69-70页 |
| 第7章 总结与展望 | 第70-72页 |
| 7.1 总结 | 第70页 |
| 7.2 论文创新点 | 第70-71页 |
| 7.3 展望 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第77页 |