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偏光片外观缺陷成像机理与检测技术研究

摘要第3-4页
Abstract第4-5页
第1章 绪论第9-17页
    1.1 偏光片简介第9-10页
    1.2 偏光片外观缺陷第10-11页
    1.3 偏光片外观缺陷检测技术研究进展第11-15页
        1.3.1 人工检测第11-12页
        1.3.2 机器视觉检测技术第12-13页
        1.3.3 外观缺陷在线检测技术AOI第13页
        1.3.4 偏光片外观缺陷离线检测技术第13-15页
    1.4 偏光片透明缺陷第15页
    1.5 结构光检测技术第15-16页
    1.6 本章小结第16-17页
第2章 偏光片检测平台的设计第17-23页
    2.1 光源的选取第17页
    2.2 相机的选取第17-18页
    2.3 镜头的选取第18-19页
    2.4 检测平台实物第19-22页
    2.5 主动光扫描法第22页
    2.6 本章小结第22-23页
第3章 成像机理研究第23-30页
    3.1 仿真软件(Tracepro)第23页
    3.2 仿真系统第23-24页
    3.3 仿真系统参数对缺陷的成像效果研究第24-30页
        3.3.1 缺陷的成像增强第25-26页
        3.3.2 缺陷随像距变化的成像规律第26-29页
        3.3.3 缺陷随深度变化的成像规律第29-30页
第4章 极细微透明缺陷的检测第30-37页
    4.1 极细微透明缺陷检测第30-31页
    4.2 偏光片的结构光过度曝光第31-32页
    4.3 过度曝光条纹宽度的选取第32-34页
    4.4 实验结果第34-36页
    4.5 本章小结第36-37页
第5章 图像处理方法与检测结果第37-63页
    5.1 偏光片条纹结构光缺陷图片的特点第37-38页
    5.2 基于Rangefilt滤波的图像处理方法第38-48页
        5.2.1 Rangefilt滤波原理第38页
        5.2.2 Rangefilt滤波参数的选择第38-42页
        5.2.3 基于Rangefilt滤波的偏光片缺陷检测第42-46页
        5.2.4 缺陷识别与提取第46-48页
    5.3 基于标准差滤波的图像处理方法第48-57页
        5.3.1 标准差滤波原理第48-49页
        5.3.2 标准差滤波参数的选择第49-51页
        5.3.3 基于标准差滤波的偏光片缺陷检测第51-55页
        5.3.4 缺陷识别与提取第55-57页
    5.4 极细微透明缺陷的图像处理第57-60页
        5.4.1 标准差滤波处理极细微透明缺陷第57-58页
        5.4.2 Rangefilt滤波处理极细微透明缺陷第58-60页
    5.5 算法对比第60-61页
    5.6 本章小结第61-63页
第6章 压痕深度测量方法第63-70页
    6.1 偏光片压痕(透明)缺陷样品制作方法第63-64页
    6.2 超景深显微镜第64-65页
    6.3 透明缺陷样品制作方法的总结第65-67页
    6.4 缺陷深度的无损测量方法第67-69页
    6.5 本章小结第69-70页
第7章 总结与展望第70-72页
    7.1 总结第70页
    7.2 论文创新点第70-71页
    7.3 展望第71-72页
参考文献第72-76页
致谢第76-77页
攻读硕士学位期间的研究成果第77页

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