探空温度传感器的设计及测试
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
第一章 绪论 | 第9-23页 |
1.1 课题研究的背景及意义 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究的现状 | 第10-20页 |
1.2.1 常见的温度传感器 | 第10-16页 |
1.2.1.1 热电偶 | 第11-12页 |
1.2.1.2 热敏电阻式温度传感器 | 第12-13页 |
1.2.1.3 铂电阻式温度传感器 | 第13-14页 |
1.2.1.4 压阻式MEMS双层薄膜温度传感器 | 第14页 |
1.2.1.5 悬臂梁电容式温度传感器 | 第14-15页 |
1.2.1.6 谐振式石英晶体温度传感器 | 第15-16页 |
1.2.2 温度传感器在探空仪中的应用 | 第16-20页 |
1.3 研究内容及设计指标 | 第20-21页 |
1.3.1 研究内容 | 第20-21页 |
1.3.2 设计指标 | 第21页 |
1.4 论文组织 | 第21-23页 |
第二章 探空温度传感器的设计 | 第23-31页 |
2.1 探空温度传感器的结构 | 第23页 |
2.2 探空温度传感器的封装 | 第23-30页 |
2.2.1 温度传感器的封装方案 | 第24-25页 |
2.2.2 引线框架 | 第25页 |
2.2.3 包封材料 | 第25-27页 |
2.2.4 反辐射涂层工艺 | 第27-30页 |
2.2.4.1 高反射率材料的选取 | 第27-28页 |
2.2.4.2 反辐射涂层颜料的制备 | 第28-29页 |
2.2.4.3 反辐射涂层的处理方法 | 第29-30页 |
2.3 本章小结 | 第30-31页 |
第三章 探空温度传感器的测试系统 | 第31-41页 |
3.1 硬件部分 | 第31-33页 |
3.1.1 C8051F350微控制器 | 第32页 |
3.1.2 电压转换器 | 第32-33页 |
3.1.3 液晶显示 | 第33页 |
3.2 软件部分 | 第33-40页 |
3.2.1 软件开发环境 | 第34-35页 |
3.2.2 IDAC设置 | 第35-36页 |
3.2.3 内部ADC设置 | 第36-37页 |
3.2.4 SMBus串行总线接口 | 第37-40页 |
3.3 本章小结 | 第40-41页 |
第四章 探空温度传感器的测试及结果分析 | 第41-55页 |
4.1 探空温度传感器的稳态特性 | 第41-46页 |
4.1.1 稳态特性的测试方法 | 第41-42页 |
4.1.2 稳态特性的测试结果及分析 | 第42-46页 |
4.1.2.1 特性曲线及误差 | 第43-44页 |
4.1.2.2 线性度及灵敏度 | 第44-45页 |
4.1.2.3 回滞特性 | 第45页 |
4.1.2.4 稳定性 | 第45-46页 |
4.2 探空温度传感器的动态特性 | 第46-48页 |
4.2.1 动态特性的测试方法 | 第47-48页 |
4.2.2 动态特性的测试结果及分析 | 第48页 |
4.3 探空温度传感器的反辐射涂层研究 | 第48-53页 |
4.3.1 反辐射涂层效果的测试方法 | 第49-50页 |
4.3.2 反辐射涂层效果的测试结果及分析 | 第50-53页 |
4.4 本章小结 | 第53-55页 |
第五章 总结与展望 | 第55-57页 |
5.1 总结 | 第55页 |
5.2 存在的问题及展望 | 第55-57页 |
参考文献 | 第57-61页 |
致谢 | 第61-63页 |
攻读硕士期间发表的论文 | 第63页 |