| 致谢 | 第4-5页 |
| 中文摘要 | 第5-6页 |
| 英文摘要 | 第6-7页 |
| 缩略语 | 第8-10页 |
| 1 引言 | 第10-15页 |
| 1.1 TRPM2通道概述 | 第10-11页 |
| 1.2 TRPM2通道失活机制 | 第11-15页 |
| 2 材料与方法 | 第15-23页 |
| 2.1 仪器设备和试剂 | 第15-16页 |
| 2.2 实验方法 | 第16-18页 |
| 2.3 TRPM2点突变质粒构建 | 第18-21页 |
| 2.4 电生理记录 | 第21-22页 |
| 2.5 数据处理 | 第22-23页 |
| 3 实验结果 | 第23-33页 |
| 3.1 Cu~(2+)而非Zn~(2+)、H~+和P1018L引发LDE失活 | 第23-26页 |
| 3.2 胞外Cu~(2+)、Zn~(2+)、H~+加速P1018L突变失活 | 第26-28页 |
| 3.3 H995Q阻断Cu~(2+)引发的TRPM2失活 | 第28-30页 |
| 3.4 Cu~(2+)而非Zn~(2+)、H~+引起P1018L-LDE突变失活 | 第30-33页 |
| 4 讨论 | 第33-36页 |
| 5 结论 | 第36-37页 |
| 参考文献 | 第37-42页 |
| 综述 | 第42-56页 |
| 参考文献 | 第52-56页 |
| 作者简历 | 第56页 |