政府扶持对研发效率的影响及其门槛效应--基于空间面板模型的实证分析
| 中文摘要 | 第2-3页 |
| Abstract | 第3-4页 |
| 中文文摘 | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 研究背景与选题意义 | 第9-10页 |
| 1.2 文献综述 | 第10-16页 |
| 1.2.1 国外研究综述 | 第10-13页 |
| 1.2.2 国内研究综述 | 第13-15页 |
| 1.2.3 研究综述小结 | 第15-16页 |
| 1.3 研究方法和技术路线 | 第16-17页 |
| 1.3.1 研究方法 | 第16-17页 |
| 1.3.2 技术路线 | 第17页 |
| 1.4 可能的创新之处和研究不足 | 第17-19页 |
| 1.4.1 创新之处 | 第17页 |
| 1.4.2 研究不足 | 第17-19页 |
| 第2章 相关概念及理论基础 | 第19-27页 |
| 2.1 研究与开发(R&D)及相关概念 | 第19-20页 |
| 2.1.1 研究与开发的概念 | 第19页 |
| 2.1.2 研究与开发的具体类别 | 第19页 |
| 2.1.3 研究与开发的主要特征 | 第19-20页 |
| 2.2 研发效率的概念与内涵 | 第20-22页 |
| 2.2.1 研发效率的概念 | 第20-21页 |
| 2.2.2 研发效率的内涵 | 第21-22页 |
| 2.3 研发效率的测算方法 | 第22-24页 |
| 2.3.1 非前沿分析 | 第22-23页 |
| 2.3.2 前沿分析 | 第23-24页 |
| 2.4 高新技术企业的概念及界定 | 第24-27页 |
| 第3章 政府扶持对研发效率影响的理论分析 | 第27-33页 |
| 3.1 政府扶持影响企业研发的主要方式 | 第28-30页 |
| 3.2 政府扶持对研发效率影响的机理 | 第30-33页 |
| 第4章 研发效率的测算及其空间计量分析 | 第33-43页 |
| 4.1 研发效率的测算 | 第33-38页 |
| 4.1.1 研发效率测算方法的选择 | 第33-34页 |
| 4.1.2 研发效率投入产出指标的选取 | 第34页 |
| 4.1.3 研发效率的测算 | 第34-38页 |
| 4.2 政府扶持对研发效率影响的空间计量分析 | 第38-43页 |
| 4.2.1 研发效率的空间溢出效应 | 第38-39页 |
| 4.2.2 空间相关性的检验 | 第39-41页 |
| 4.2.3 空间计量模型的设定 | 第41页 |
| 4.2.4 模型估计结果分析 | 第41-43页 |
| 第5章 政府扶持对研发效率影响的门槛检验 | 第43-47页 |
| 5.1 面板门槛模型 | 第43页 |
| 5.2 数据选取和变量描述 | 第43-44页 |
| 5.3 面板门槛模型实证检验及结果分析 | 第44-47页 |
| 5.3.1 门槛模型估计与检验 | 第44-45页 |
| 5.3.2 门槛模型结果分析 | 第45-47页 |
| 第6章 结论与政策建议 | 第47-51页 |
| 6.1 基本结论 | 第47-49页 |
| 6.2 对策建议 | 第49-51页 |
| 参考文献 | 第51-57页 |
| 攻读学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-61页 |
| 个人简历 | 第61-63页 |
