| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 目录 | 第9-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-22页 |
| ·X射线成像发展概述 | 第13-15页 |
| ·X射线成像基本原理 | 第15-17页 |
| ·本论文课题研究意义 | 第17-18页 |
| ·本文主要研究内容 | 第18-19页 |
| 参考文献 | 第19-22页 |
| 第二章 同步辐射X射线显微成像方法简介 | 第22-44页 |
| ·全场透射X射线显微镜 | 第22-24页 |
| ·扫描透射X射线显微镜 | 第24-25页 |
| ·Zernike相衬显微成像 | 第25-28页 |
| ·相干X射线衍射成像 | 第28-30页 |
| ·X射线全息成像 | 第30-32页 |
| ·X射线荧光显微术 | 第32-34页 |
| ·X射线光谱显微术 | 第34-36页 |
| ·X射线光电发射电子显微镜 | 第36-37页 |
| 参考文献 | 第37-44页 |
| 第三章 结构暗场显微术 | 第44-62页 |
| ·暗场成像 | 第44-46页 |
| ·暗场成像简介 | 第44-45页 |
| ·X射线暗场成像 | 第45-46页 |
| ·结构暗场X射线显微术 | 第46-57页 |
| ·基本结构与原理 | 第47-49页 |
| ·TXM系统光强快速计算方法 | 第49-51页 |
| ·结构暗场成像系统的数值计算 | 第51-54页 |
| ·可见光实验 | 第54-57页 |
| ·一些讨论 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 第四章 基于相位衬度的X射线元素分辨成像方法 | 第62-82页 |
| ·吸收边分辨成像方法 | 第62-65页 |
| ·相衬元素分辨成像 | 第65-77页 |
| ·基本原理 | 第65-66页 |
| ·光子数密度与信噪比 | 第66-69页 |
| ·建模分析计算 | 第69-72页 |
| ·模拟实验 | 第72-75页 |
| ·Zernike相位衬度TXM系统像平面光强仿真模拟 | 第75-77页 |
| ·一些讨论 | 第77-78页 |
| ·本章小结 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-82页 |
| 第五章 正负相移双金属波带片 | 第82-98页 |
| ·菲涅尔波带片 | 第82-84页 |
| ·波带片基本结构 | 第82-83页 |
| ·波带片发展历史 | 第83-84页 |
| ·正负相移双金属波带片 | 第84-94页 |
| ·基本原理 | 第84-86页 |
| ·一级衍射效率 | 第86-90页 |
| ·正负相移双金属波带片工作能量范围 | 第90-92页 |
| ·正负相移双金属波带片的加工 | 第92-94页 |
| ·本章小结 | 第94-95页 |
| 参考文献 | 第95-98页 |
| 第六章 总结与展望 | 第98-100页 |
| 致谢 | 第100-102页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第102页 |