红外消旋检测装置的光学系统设计
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
主要符号表 | 第9-10页 |
1 绪论 | 第10-14页 |
·课题的研究目的和意义 | 第10-11页 |
·国内外现状 | 第11-12页 |
·消旋技术应用现状 | 第11页 |
·制冷型长波红外成像系统发展现状 | 第11-12页 |
·本文的研究内容及组织结构 | 第12-14页 |
·本文研究内容 | 第12-13页 |
·本文的组织结构 | 第13-14页 |
2 消旋检测系统综述 | 第14-18页 |
·消旋方式 | 第14-15页 |
·消旋检测方案 | 第15-16页 |
·方案设计 | 第15页 |
·工作原理 | 第15-16页 |
·红外成像系统 | 第16-17页 |
·本文红外系统的特点 | 第16-17页 |
·本文红外系统的设计原则 | 第17页 |
·本章小结 | 第17-18页 |
3 光学系统总体设计 | 第18-26页 |
·系统设计要求 | 第18页 |
·红外光学材料 | 第18-20页 |
·红外光学材料的性能与分类 | 第18-19页 |
·长波红外材料 | 第19-20页 |
·制冷型CCD与冷光阑 | 第20页 |
·结构选型 | 第20-24页 |
·结构布局 | 第20-22页 |
·初始结构 | 第22-24页 |
·本章小结 | 第24-26页 |
4 红外光学系统设计 | 第26-35页 |
·系统消热差 | 第26-30页 |
·热差理论 | 第26-27页 |
·消热差方法 | 第27-28页 |
·光学被动消热差设计 | 第28-30页 |
·冷反射 | 第30-31页 |
·冷反射的产生 | 第30-31页 |
·冷反射的抑制 | 第31页 |
·系统优化 | 第31-34页 |
·本章小结 | 第34-35页 |
5 系统设计结果及像质评价 | 第35-42页 |
·设计结果 | 第35-36页 |
·像质评价 | 第36-41页 |
·点列图 | 第36-37页 |
·调制传递函数 | 第37-39页 |
·其它像差曲线 | 第39-40页 |
·冷光阑与冷反射分析 | 第40-41页 |
·离焦分析 | 第41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
6 衍射元件加工及分析 | 第42-50页 |
·应用优势 | 第42页 |
·加工过程 | 第42-44页 |
·衍射元件精度分析 | 第44-46页 |
·数学模型 | 第44-45页 |
·面型精度分析 | 第45-46页 |
·影响衍射元件精度的工艺因素分析 | 第46-48页 |
·遮挡效应 | 第46-47页 |
·环带误差 | 第47页 |
·刀具对粗糙度的影响 | 第47-48页 |
·本章小结 | 第48-50页 |
7 结论与展望 | 第50-52页 |
·结论 | 第50-51页 |
·展望 | 第51-52页 |
参考文献 | 第52-56页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第56-57页 |
致谢 | 第57-60页 |
附录 | 第60-61页 |