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数字电路老化失效预测与防护技术研究

摘要第1-10页
Abstract第10-12页
致谢第12-20页
第一章 引言第20-31页
   ·研究背景及意义第20-24页
     ·NBTI效应第21-23页
     ·数字电路老化的影响第23-24页
   ·研究动机第24-27页
     ·老化关键路径的选取问题第25页
     ·老化失效预测电路的优化设计问题第25-26页
     ·老化过程的准确度量问题第26页
     ·老化失效防护机制与电路性能存在冲突的问题第26-27页
   ·本文的研究工作内容第27-29页
     ·基于信号翻转概率的电路老化关键路径分析第27-28页
     ·基于双沿采样的电路老化失效在线预测第28页
     ·基于自振荡回路的电路老化度量第28-29页
     ·基于时-空冗余的电路老化失效防护第29页
   ·本文的组织结构第29-31页
第二章 数字电路老化失效预测与防护方法第31-42页
   ·数字电路老化模型研究及应用第31-33页
     ·老化失效模型第31-32页
     ·基于老化模型的关键路径选择第32-33页
   ·数字电路老化失效在线测试第33-36页
     ·基于aging sensor的老化在线测试第33-36页
     ·基于预兆单元的老化失效测试第36页
   ·数字电路老化失效防护第36-41页
     ·基于工作参数调整的电路老化防护第36-37页
     ·采用输入向量控制的电路老化恢复第37-38页
     ·基于时序拆借的老化容忍第38-39页
     ·控制受压时间延缓电路老化第39-41页
   ·小结第41-42页
第三章 基于信号翻转概率的电路老化关键路径分析第42-50页
   ·电路老化关键路径选择的问题第42-44页
   ·基于信号翻转概率的电路时延变化计算方法第44-46页
   ·基于信号翻转概率的电路老化关键路径选择方法第46-47页
   ·实验结果及分析第47-49页
     ·基于信号翻转概率的电路时延计算方法的准确性实验第48-49页
     ·基于信号翻转概率的电路老化关键路径选择方法的有效性实验第49页
   ·小结第49-50页
第四章 基于双沿采样的数字电路老化失效预测第50-58页
   ·数字电路老化过程分析第50-52页
   ·基于双沿采样的数字电路老化失效预测方法设计第52-54页
   ·实验结果及分析第54-56页
     ·方法的有效性验证第54-55页
     ·工艺偏差的容忍性实验第55页
     ·面积、功耗和性能代价的测量第55-56页
   ·小结第56-58页
第五章 基于自振荡回路的老化度量第58-69页
   ·电路老化测量的准确性分析第58-59页
   ·基于自振荡回路的老化度量方法第59-65页
     ·选择老化敏感特征通路第60-62页
     ·构造自振荡回路第62-63页
     ·生成老化测试向量,激发自振荡回路第63-64页
     ·度量电路老化程度第64-65页
   ·实验结果及分析第65-68页
     ·应用实例介绍第65-67页
     ·本方法度量精度与工艺偏差容忍性实验第67-68页
   ·小结第68-69页
第六章 基于时-空冗余的老化失效防护第69-83页
   ·数字电路自适应的容老化过程第69-70页
   ·基于时-空冗余的老化失效防护机制设计第70-72页
   ·老化失效防护实现方案第72-77页
     ·方案一:采用影子触发器实现第72-74页
     ·方案二:采用动态双采样时钟实现第74-77页
   ·实验结果及分析第77-82页
     ·失效防护功能的仿真模拟第77-78页
     ·失效防护机制对电路可靠性的影响第78-80页
     ·防护电路面积开销和性能损失分析第80-82页
   ·小结第82-83页
第七章 总结与展望第83-86页
   ·本文主要贡献第83-84页
   ·未来工作展望第84-86页
参考文献第86-95页
攻读博士学位期间发表的学术论文第95页
攻读博士学位期间申请的发明专利第95-96页
攻读博士学位期间参加的科研项目第96-97页

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