摘要 | 第1-10页 |
Abstract | 第10-12页 |
致谢 | 第12-20页 |
第一章 引言 | 第20-31页 |
·研究背景及意义 | 第20-24页 |
·NBTI效应 | 第21-23页 |
·数字电路老化的影响 | 第23-24页 |
·研究动机 | 第24-27页 |
·老化关键路径的选取问题 | 第25页 |
·老化失效预测电路的优化设计问题 | 第25-26页 |
·老化过程的准确度量问题 | 第26页 |
·老化失效防护机制与电路性能存在冲突的问题 | 第26-27页 |
·本文的研究工作内容 | 第27-29页 |
·基于信号翻转概率的电路老化关键路径分析 | 第27-28页 |
·基于双沿采样的电路老化失效在线预测 | 第28页 |
·基于自振荡回路的电路老化度量 | 第28-29页 |
·基于时-空冗余的电路老化失效防护 | 第29页 |
·本文的组织结构 | 第29-31页 |
第二章 数字电路老化失效预测与防护方法 | 第31-42页 |
·数字电路老化模型研究及应用 | 第31-33页 |
·老化失效模型 | 第31-32页 |
·基于老化模型的关键路径选择 | 第32-33页 |
·数字电路老化失效在线测试 | 第33-36页 |
·基于aging sensor的老化在线测试 | 第33-36页 |
·基于预兆单元的老化失效测试 | 第36页 |
·数字电路老化失效防护 | 第36-41页 |
·基于工作参数调整的电路老化防护 | 第36-37页 |
·采用输入向量控制的电路老化恢复 | 第37-38页 |
·基于时序拆借的老化容忍 | 第38-39页 |
·控制受压时间延缓电路老化 | 第39-41页 |
·小结 | 第41-42页 |
第三章 基于信号翻转概率的电路老化关键路径分析 | 第42-50页 |
·电路老化关键路径选择的问题 | 第42-44页 |
·基于信号翻转概率的电路时延变化计算方法 | 第44-46页 |
·基于信号翻转概率的电路老化关键路径选择方法 | 第46-47页 |
·实验结果及分析 | 第47-49页 |
·基于信号翻转概率的电路时延计算方法的准确性实验 | 第48-49页 |
·基于信号翻转概率的电路老化关键路径选择方法的有效性实验 | 第49页 |
·小结 | 第49-50页 |
第四章 基于双沿采样的数字电路老化失效预测 | 第50-58页 |
·数字电路老化过程分析 | 第50-52页 |
·基于双沿采样的数字电路老化失效预测方法设计 | 第52-54页 |
·实验结果及分析 | 第54-56页 |
·方法的有效性验证 | 第54-55页 |
·工艺偏差的容忍性实验 | 第55页 |
·面积、功耗和性能代价的测量 | 第55-56页 |
·小结 | 第56-58页 |
第五章 基于自振荡回路的老化度量 | 第58-69页 |
·电路老化测量的准确性分析 | 第58-59页 |
·基于自振荡回路的老化度量方法 | 第59-65页 |
·选择老化敏感特征通路 | 第60-62页 |
·构造自振荡回路 | 第62-63页 |
·生成老化测试向量,激发自振荡回路 | 第63-64页 |
·度量电路老化程度 | 第64-65页 |
·实验结果及分析 | 第65-68页 |
·应用实例介绍 | 第65-67页 |
·本方法度量精度与工艺偏差容忍性实验 | 第67-68页 |
·小结 | 第68-69页 |
第六章 基于时-空冗余的老化失效防护 | 第69-83页 |
·数字电路自适应的容老化过程 | 第69-70页 |
·基于时-空冗余的老化失效防护机制设计 | 第70-72页 |
·老化失效防护实现方案 | 第72-77页 |
·方案一:采用影子触发器实现 | 第72-74页 |
·方案二:采用动态双采样时钟实现 | 第74-77页 |
·实验结果及分析 | 第77-82页 |
·失效防护功能的仿真模拟 | 第77-78页 |
·失效防护机制对电路可靠性的影响 | 第78-80页 |
·防护电路面积开销和性能损失分析 | 第80-82页 |
·小结 | 第82-83页 |
第七章 总结与展望 | 第83-86页 |
·本文主要贡献 | 第83-84页 |
·未来工作展望 | 第84-86页 |
参考文献 | 第86-95页 |
攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第95页 |
攻读博士学位期间申请的发明专利 | 第95-96页 |
攻读博士学位期间参加的科研项目 | 第96-97页 |