| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·课题的背景 | 第10-11页 |
| ·存储器测试概述 | 第11-12页 |
| ·存储器测试方法 | 第11-12页 |
| ·存储器测试算法 | 第12页 |
| ·国内外研究现状 | 第12-13页 |
| ·本论文的组织结构 | 第13-14页 |
| 第二章 存储器测试的基本原理和算法 | 第14-24页 |
| ·存储器的简介 | 第14-16页 |
| ·存储器类型 | 第14页 |
| ·存储器电路模型 | 第14-16页 |
| ·存储器阵列故障模型 | 第16-20页 |
| ·常用存储器测试算法的分析与比较 | 第20-24页 |
| ·MSCAN 算法 | 第21页 |
| ·Checkerboard 算法 | 第21页 |
| ·March 算法 | 第21-22页 |
| ·GALPAT 算法 | 第22-23页 |
| ·各种存储器测试算法的比较 | 第23-24页 |
| 第三章 一种改进型的存储器测试算法 MARCH SD | 第24-35页 |
| ·故障原语的定义 | 第24-25页 |
| ·经典 March 算法的静态故障覆盖率 | 第25-27页 |
| ·动态故障的重要性 | 第27-31页 |
| ·基于静态、动态故障的 March SD 算法研究 | 第31-34页 |
| ·本章小节 | 第34-35页 |
| 第四章 算法 MARCH SD 对静态故障的检测原理 | 第35-55页 |
| ·对单个单元静态故障的检测 | 第35-39页 |
| ·状态故障 | 第35页 |
| ·转换故障 | 第35-36页 |
| ·写干扰故障 | 第36-37页 |
| ·读破坏故障 | 第37页 |
| ·伪读破坏故障 | 第37-38页 |
| ·错误读故障 | 第38-39页 |
| ·单个单元的静态故障总结 | 第39页 |
| ·对两个单元静态耦合故障的检测 | 第39-53页 |
| ·状态耦合故障 | 第40-42页 |
| ·干扰耦合故障 | 第42-48页 |
| ·转换耦合故障 | 第48-49页 |
| ·写破坏耦合故障 | 第49-51页 |
| ·读破坏耦合故障 | 第51-52页 |
| ·伪读破坏耦合故障 | 第52页 |
| ·错误读耦合故障 | 第52-53页 |
| ·静态耦合故障的总结 | 第53-55页 |
| 第五章 算法 MARCH SD 对动态故障的检测原理 | 第55-73页 |
| ·对单个单元动态故障的检测 | 第55-58页 |
| ·动态写干扰故障 | 第55-56页 |
| ·动态读破坏故障 | 第56-57页 |
| ·动态伪读破坏故障 | 第57-58页 |
| ·动态错误读故障 | 第58页 |
| ·单个单元的动态故障总结 | 第58-59页 |
| ·对两个单元动态耦合故障的检测 | 第59-71页 |
| ·动态写破坏耦合故障 | 第60-62页 |
| ·动态干扰耦合故障 | 第62-67页 |
| ·动态读破坏耦合故障 | 第67-69页 |
| ·动态伪读破坏耦合故障 | 第69-70页 |
| ·动态错误读耦合故障 | 第70-71页 |
| ·两个单元的动态耦合故障总结 | 第71-73页 |
| 第六章 存储器测试算法 MARCH SD 的实现 | 第73-94页 |
| ·测试仪的总体介绍 | 第73-74页 |
| ·系统设计目标 | 第73页 |
| ·系统设计原理 | 第73-74页 |
| ·测试仪的硬件电路介绍 | 第74-78页 |
| ·FPGA 的特点和设计流程 | 第74页 |
| ·逻辑电路的主要模块的介绍 | 第74-78页 |
| ·测试仪的上位机软件介绍 | 第78-87页 |
| ·LabVIEW 的编程特点 | 第78-79页 |
| ·上位机软件设计的总体介绍 | 第79-81页 |
| ·上位机各个模块的介绍 | 第81-87页 |
| ·联机测试和结果分析 | 第87-93页 |
| ·对 CY62128 的联机测试 | 第88-90页 |
| ·对有故障的存储器仿真测试 | 第90-93页 |
| ·本章小节 | 第93-94页 |
| 第七章 总结和展望 | 第94-96页 |
| 致谢 | 第96-97页 |
| 参考文献 | 第97-100页 |
