| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| ·电磁干扰的危害与电磁兼容的发展 | 第9-12页 |
| ·电磁干扰的危害 | 第9-11页 |
| ·电磁兼容的发展 | 第11-12页 |
| ·电磁兼容的研究内容 | 第12-13页 |
| ·本文的主要研究内容和结构安排 | 第13-14页 |
| 第二章 电磁兼容测试系统所涉及的相关技术分析 | 第14-23页 |
| ·电磁兼容认证 | 第14页 |
| ·近场探测技术的发展 | 第14-17页 |
| ·近场探测在电磁兼容问题中的应用与发展 | 第17-21页 |
| ·本章小结 | 第21-23页 |
| 第三章 系统结构及天线探头的选择与设计 | 第23-49页 |
| ·系统参数要求与结构 | 第23-25页 |
| ·快速扫描天线的研究与设计 | 第25-31页 |
| ·UWB技术及UWB天线介绍 | 第25-29页 |
| ·超宽带平面偶极子快速扫描天线的设计 | 第29-31页 |
| ·探头形式的探索与研究 | 第31-49页 |
| ·电场探头与磁场探头介绍 | 第31-35页 |
| ·窄带螺旋探头的研究与设计 | 第35-49页 |
| 第四章 馈电网络的设计与加工以及计算机控制软件的开发 | 第49-65页 |
| ·传输线理论 | 第49-55页 |
| ·传输线常用模型分析和场分析 | 第49-51页 |
| ·端接负载无耗传输线的理论分析 | 第51-54页 |
| ·有耗传输线 | 第54-55页 |
| ·馈电网络的设计与加工 | 第55-59页 |
| ·控制软件的开发 | 第59-65页 |
| ·Agilent VEE 概述 | 第59-60页 |
| ·VEE开发窗口介绍 | 第60-62页 |
| ·VEE的优越性 | 第62-64页 |
| ·桌面操作软件 | 第64-65页 |
| 第五章 初步测试结果与后期工作展望 | 第65-70页 |
| ·初步测试 | 第65-68页 |
| ·后期工作展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 作者攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第74页 |