| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 插图目录 | 第11-14页 |
| 表格目录 | 第14-15页 |
| 第一章 引言 | 第15-18页 |
| ·粒子物理与粒子物理实验 | 第15页 |
| ·ψ(3770)物理 | 第15-17页 |
| ·课题背景及论文结构 | 第17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 第二章 北京正负电子对撞机(BEPCⅡ)和北京谱仪(BESⅢ) | 第18-23页 |
| ·北京正负电子对撞机(BEPCⅡ) | 第18-19页 |
| ·北京谱仪(BESⅢ) | 第19-23页 |
| 第三章 BESⅢ探测器的ψ(3770)数据的实时数据质量检查 | 第23-36页 |
| ·物理意义 | 第23页 |
| ·积分亮度的检查 | 第23-28页 |
| ·Bhabha散射过程 | 第24-25页 |
| ·双光子散射过程 | 第25-26页 |
| ·积分亮度的测量 | 第26-28页 |
| ·信号产额的检查 | 第28-30页 |
| ·事例顶点的检查 | 第30-32页 |
| ·dE/dx的检查 | 第32-33页 |
| ·TOF性能的检查 | 第33-34页 |
| ·EMC性能的检查 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 ψ(3770)数据的质心系束流能量刻度 | 第36-50页 |
| ·研究背景及目的 | 第36页 |
| ·束流能量的离线刻度方法 | 第36-37页 |
| ·事例挑选 | 第37-40页 |
| ·带电径迹的挑选 | 第37-38页 |
| ·中性径迹的挑选 | 第38页 |
| ·K介子和π介子的径迹挑选 | 第38-40页 |
| ·π~0介子的挑选 | 第40页 |
| ·K_S~0介子的挑选 | 第40页 |
| ·D介子的挑选 | 第40页 |
| ·刻度方法的MC测试 | 第40-41页 |
| ·BESⅢ的ψ(3770)数据的束流能量刻度 | 第41-44页 |
| ·系统误差 | 第44-46页 |
| ·D介子质量的不确定性 | 第44页 |
| ·D介子的束流约束质量谱的拟合偏差 | 第44页 |
| ·不同的事例挑选引起的系统误差 | 第44-45页 |
| ·CB信号函数和ARGUS本底函数的形状的变化引起的系统误差 | 第45页 |
| ·束流约束质量谱的拟合区间的变化引起的系统误差 | 第45-46页 |
| ·束流能量刻度结果的验证 | 第46-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第五章 D~0→K~-π~+η的DALITZ图分析 | 第50-69页 |
| ·物理意义 | 第50页 |
| ·事例挑选 | 第50-52页 |
| ·双标记D介子原理 | 第50-51页 |
| ·单标记D介子的事例挑选条件 | 第51页 |
| ·信号道D~0→K~-π~+η的事例挑选条件 | 第51-52页 |
| ·单举Monte Carlo的研究 | 第52-53页 |
| ·遍举Monte Carlo样本的研究 | 第53-60页 |
| ·遍举Monte Carlo样本和BESⅢψ(3770)数据的比较 | 第53-54页 |
| ·本底背景构成的研究 | 第54-60页 |
| ·Dalitz图分析方法 | 第60-68页 |
| ·三体衰变运动学 | 第60-61页 |
| ·概率密度函数(PDF) | 第61页 |
| ·拟合优度 | 第61-62页 |
| ·信号PDF | 第62-63页 |
| ·效率函数 | 第63-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第75页 |
