首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--大规模集成电路、超大规模集成电路论文

SoC可重用验证平台研究与开发

摘要第1-7页
ABSTRACT第7-11页
第1章 绪论第11-14页
   ·研究背景第11-12页
     ·验证面临的挑战第11-12页
     ·验证的开销第12页
   ·研究内容及章节安排第12-14页
第2章 验证方法学概述第14-25页
   ·测试平台概念第14-15页
   ·传统验证环境的特点及不足第15-18页
     ·传统验证环境的特点第15-17页
     ·传统验证平台的不足第17-18页
   ·硬件验证语言简介第18-23页
     ·Vera第19页
     ·SystemC第19-20页
     ·SystemVerilog第20-22页
     ·面向对象的设计语言第22-23页
   ·SoC验证面临的挑战第23-25页
第3章 OVM验证方法学初探第25-54页
   ·OVM和CDV验证技术简介第25-26页
   ·OVM验证平台和验证环境第26-29页
   ·SystemVerilog的OVM类第29-37页
     ·OVM验证组件类第29-31页
     ·OVM仿真运行阶段第31-37页
   ·事务级系统建模第37-50页
     ·事务级建模综述第38-39页
     ·OVM中TLM概念第39-40页
     ·端口和输出端口第40-41页
     ·传统模块间通信第41-42页
     ·生产者和消费者问题第42-50页
   ·SoC系统验证环境第50-54页
第4章 利用OVM搭建可重用验证平台第54-77页
   ·被测设计DUT功能简介第54-55页
   ·验证需求分析第55页
   ·搭建验证平台第55-60页
     ·PCI-Express总线简介第55-56页
     ·PCI-Express IP核简介第56-58页
     ·被测对象的PCI-E接口设计第58页
     ·验证的难点第58-60页
     ·验证流程第60页
   ·OVM验证平台第60-62页
   ·验证平台各模块介绍第62-73页
     ·PCI-E数据包定义第62-65页
     ·序列发生器sequencer第65-66页
     ·测试序列sequence第66-67页
     ·驱动器driver第67-72页
     ·测试环境environment第72页
     ·测试作为顶层test第72-73页
   ·测试结果分析第73-77页
第5章 总结与展望第77-79页
   ·总结第77页
   ·展望第77-79页
参考文献第79-82页
附录第82-83页
作者攻读学位期间发表的论文第83-84页
致谢第84页

论文共84页,点击 下载论文
上一篇:太阳能LED照明系统的研究与设计
下一篇:基于Δ-Σ调制的S波段频率合成器的设计与实现