SoC可重用验证平台研究与开发
摘要 | 第1-7页 |
ABSTRACT | 第7-11页 |
第1章 绪论 | 第11-14页 |
·研究背景 | 第11-12页 |
·验证面临的挑战 | 第11-12页 |
·验证的开销 | 第12页 |
·研究内容及章节安排 | 第12-14页 |
第2章 验证方法学概述 | 第14-25页 |
·测试平台概念 | 第14-15页 |
·传统验证环境的特点及不足 | 第15-18页 |
·传统验证环境的特点 | 第15-17页 |
·传统验证平台的不足 | 第17-18页 |
·硬件验证语言简介 | 第18-23页 |
·Vera | 第19页 |
·SystemC | 第19-20页 |
·SystemVerilog | 第20-22页 |
·面向对象的设计语言 | 第22-23页 |
·SoC验证面临的挑战 | 第23-25页 |
第3章 OVM验证方法学初探 | 第25-54页 |
·OVM和CDV验证技术简介 | 第25-26页 |
·OVM验证平台和验证环境 | 第26-29页 |
·SystemVerilog的OVM类 | 第29-37页 |
·OVM验证组件类 | 第29-31页 |
·OVM仿真运行阶段 | 第31-37页 |
·事务级系统建模 | 第37-50页 |
·事务级建模综述 | 第38-39页 |
·OVM中TLM概念 | 第39-40页 |
·端口和输出端口 | 第40-41页 |
·传统模块间通信 | 第41-42页 |
·生产者和消费者问题 | 第42-50页 |
·SoC系统验证环境 | 第50-54页 |
第4章 利用OVM搭建可重用验证平台 | 第54-77页 |
·被测设计DUT功能简介 | 第54-55页 |
·验证需求分析 | 第55页 |
·搭建验证平台 | 第55-60页 |
·PCI-Express总线简介 | 第55-56页 |
·PCI-Express IP核简介 | 第56-58页 |
·被测对象的PCI-E接口设计 | 第58页 |
·验证的难点 | 第58-60页 |
·验证流程 | 第60页 |
·OVM验证平台 | 第60-62页 |
·验证平台各模块介绍 | 第62-73页 |
·PCI-E数据包定义 | 第62-65页 |
·序列发生器sequencer | 第65-66页 |
·测试序列sequence | 第66-67页 |
·驱动器driver | 第67-72页 |
·测试环境environment | 第72页 |
·测试作为顶层test | 第72-73页 |
·测试结果分析 | 第73-77页 |
第5章 总结与展望 | 第77-79页 |
·总结 | 第77页 |
·展望 | 第77-79页 |
参考文献 | 第79-82页 |
附录 | 第82-83页 |
作者攻读学位期间发表的论文 | 第83-84页 |
致谢 | 第84页 |