基于单片机控制的PTCR阻温特性测试系统研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-8页 |
1 绪论 | 第8-13页 |
·PTCR 智能仪表的国内外现状及发展趋势 | 第8-9页 |
·PTCR 阻温特性及测试要求 | 第9-10页 |
·本论文所作工作及意义 | 第10-13页 |
2 PTCR 材料阻温特性测试系统总体设计 | 第13-22页 |
·测试系统结构组成及测试原理 | 第13-15页 |
·C8051F020 单片机 | 第15-18页 |
·SED1335 液晶控制器 | 第18-21页 |
·FLASH 存储器 | 第21-22页 |
3 测试系统主要硬件电路设计与制作 | 第22-47页 |
·恒流源电路的设计 | 第22-30页 |
·C8051F020 单片机端口配置 | 第30-33页 |
·通道继电器选择及恒流源自动换档 | 第33-37页 |
·样品电压及温度信号采集 | 第37-42页 |
·键盘按钮设计 | 第42-44页 |
·液晶显示屏接口设计 | 第44-47页 |
4 测试系统软件设计 | 第47-54页 |
·SED1335 液晶控制器程序 | 第47-50页 |
·FLASH 存储器初始化及其数据存储程序 | 第50-51页 |
·阻温特性测试系统测量主程序 | 第51-52页 |
·温度控制 | 第52-54页 |
5 系统运行及测试结果分析 | 第54-64页 |
·脉冲信号产生及其控制继电器动作 | 第54-55页 |
·PTCR 样品测试结果及分析 | 第55-64页 |
6 全文总结 | 第64-66页 |
致谢 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-70页 |
附录 FLASH读写控制程序 | 第70-73页 |