首页--工业技术论文--自动化技术、计算机技术论文--自动化技术及设备论文--自动化系统论文--数据处理、数据处理系统论文

基于单片机控制的PTCR阻温特性测试系统研究

摘要第1-5页
Abstract第5-8页
1 绪论第8-13页
   ·PTCR 智能仪表的国内外现状及发展趋势第8-9页
   ·PTCR 阻温特性及测试要求第9-10页
   ·本论文所作工作及意义第10-13页
2 PTCR 材料阻温特性测试系统总体设计第13-22页
   ·测试系统结构组成及测试原理第13-15页
   ·C8051F020 单片机第15-18页
   ·SED1335 液晶控制器第18-21页
   ·FLASH 存储器第21-22页
3 测试系统主要硬件电路设计与制作第22-47页
   ·恒流源电路的设计第22-30页
   ·C8051F020 单片机端口配置第30-33页
   ·通道继电器选择及恒流源自动换档第33-37页
   ·样品电压及温度信号采集第37-42页
   ·键盘按钮设计第42-44页
   ·液晶显示屏接口设计第44-47页
4 测试系统软件设计第47-54页
   ·SED1335 液晶控制器程序第47-50页
   ·FLASH 存储器初始化及其数据存储程序第50-51页
   ·阻温特性测试系统测量主程序第51-52页
   ·温度控制第52-54页
5 系统运行及测试结果分析第54-64页
   ·脉冲信号产生及其控制继电器动作第54-55页
   ·PTCR 样品测试结果及分析第55-64页
6 全文总结第64-66页
致谢第66-67页
参考文献第67-70页
附录 FLASH读写控制程序第70-73页

论文共73页,点击 下载论文
上一篇:猪复合麻醉剂-ZFM麻醉效果及监测的研究
下一篇:武汉城市圈产业一体化发展研究