基于MSP430的智能测控模块的设计与研究
摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-5页 |
目录 | 第5-7页 |
1 绪论 | 第7-10页 |
·测控技术 | 第7-8页 |
·课题背景 | 第8-9页 |
·论文章节安排 | 第9-10页 |
2 智能测控模块的硬件设计 | 第10-30页 |
·设计指标要求 | 第10页 |
·智能测控模块功能框图 | 第10-11页 |
·MSP430系列单片机简介 | 第11页 |
·智能测控模块硬件电路设计 | 第11-27页 |
·元器件选型 | 第11-14页 |
·MSP430F149的端口分配 | 第14-15页 |
·电平转换和电源隔离 | 第15-16页 |
·时钟电路 | 第16页 |
·复位电路 | 第16-17页 |
·矩阵键盘 | 第17-18页 |
·液晶显示 | 第18-19页 |
·AD和 DA接口 | 第19-21页 |
·RS232/485通信接口 | 第21-23页 |
·CAN通信接口 | 第23-25页 |
·JTAG接口 | 第25-26页 |
·脉冲计数接口 | 第26页 |
·数字输入、输出接口 | 第26-27页 |
·极限报警与指示灯 | 第27页 |
·硬件可靠性设计 | 第27-28页 |
·本章小结 | 第28-30页 |
3 智能测控模块的软件设计 | 第30-41页 |
·开发工具简介 | 第30页 |
·单片机程序设计 | 第30-38页 |
·看门狗 | 第31页 |
·键盘处理 | 第31-32页 |
·液晶显示 | 第32-33页 |
·AD采集和 DA输出 | 第33-34页 |
·RS232/485通信 | 第34-36页 |
·CAN通信 | 第36-38页 |
·软件可靠性设计 | 第38-39页 |
·本章小结 | 第39-41页 |
4 智能测控模块的软、硬件调试 | 第41-50页 |
·电源电路 | 第41页 |
·时钟电路 | 第41-42页 |
·复位电路 | 第42页 |
·矩阵键盘 | 第42页 |
·液晶显示 | 第42-44页 |
·AD和 DA | 第44页 |
·RS232/485接口与PC通信 | 第44-47页 |
·CAN接口与PC通信 | 第47-48页 |
·数字 DIO口 | 第48页 |
·脉冲计数 | 第48-49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
5 在智能测控模块上移植μC/OS-Ⅱ | 第50-59页 |
·内核特点分析 | 第50页 |
·移植的实现 | 第50-54页 |
·移植的可行性 | 第50-51页 |
·内核文件结构 | 第51-52页 |
·移植的具体步骤 | 第52-54页 |
·移植的正确性验证 | 第54-58页 |
·本章小结 | 第58-59页 |
6 智能测控模块在综合过程控制系统中的应用 | 第59-70页 |
·实验室综合过程控制对象简介 | 第59-60页 |
·控制方案 | 第60-61页 |
·控制算法 | 第61-65页 |
·增量式积分分离PID算法 | 第61-63页 |
·算法的分析和改进 | 第63-65页 |
·上位机监控软件的设计 | 第65-67页 |
·运行结果分析 | 第67-70页 |
7 结论和展望 | 第70-71页 |
致谢 | 第71-72页 |
参考文献 | 第72-75页 |
附录A 智能测控模块原理图 | 第75-76页 |
附录B 智能测控模块 PCB图 | 第76-77页 |
附录C 编程下载器原理图和 PCB | 第77-78页 |
附录D 移植μC/OS-Ⅱ的程序清单 | 第78-82页 |