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测量系统波动源分离与监控技术的研究及应用

摘要第1-4页
ABSTRACT第4-7页
1 绪论第7-14页
   ·课题背景与意义第7-9页
     ·测量与质量管理第7-8页
     ·对测量的理解第8页
     ·波动理论第8-9页
   ·测量系统的研究与应用现状第9-12页
     ·测量系统分析(MSA)理论第11页
     ·测量质量工程学理论第11-12页
   ·论文的研究范围及结构第12-14页
2 测量系统分析(MSA)的研究第14-23页
   ·测量系统的统计稳定性第14-15页
   ·MSA中对影响测量系统的波动分类第15-16页
     ·各类波动的定义第15-16页
     ·各类波动的计算第16页
   ·测量系统的方差分析模型第16-19页
   ·测量系统的接受准则第19-22页
     ·测量系统的线性第19-20页
     ·测量系统的分辨率第20-22页
     ·测量系统能力第22页
   ·本章小结第22-23页
3 测量系统的监控技术第23-34页
   ·统计过程控制理论第23-26页
     ·控制图的基本原理第23-24页
     ·控制图的构造第24-26页
     ·控制图的使用第26页
   ·对测量系统进行监控的必要性与可行性第26-28页
   ·测量系统监控技术的文献综述第28-30页
     ·基于同分布原则的测量系统监控技术第28-29页
     ·测量系统的单值移动极差控制图第29-30页
   ·基于方差分量控制的测量系统控制图第30-33页
     ·方差分量控制图构造阶段第31-32页
     ·方差分量控制图实施阶段第32-33页
   ·本章小结第33-34页
4 测量系统的设计与使用策略研究第34-48页
   ·测量质量工程学研究第34-41页
     ·测量质量工程学对影响测量系统波动的分类第34-35页
     ·测量质量工程学中测量系统的接受准则第35-36页
     ·测量系统的误差分析第36-40页
     ·测量质量工程学其他应用方面第40-41页
   ·测量质量工程学与MSA理论的比较第41-44页
     ·思想层面上的比较第41-42页
     ·应用层面上的比较第42-44页
   ·测量系统的设计与使用策略第44-47页
     ·测量系统的设计与使用策略第44-46页
     ·测量过程在生产过程中的重新定位第46-47页
   ·本章小结第47-48页
5 测量系统波动控制技术在产品制造过程中的应用研究第48-61页
   ·测量系统波动控制技术在产品制造过程中的应用第48-49页
   ·晶圆膜淀积过程的波动源分离及其控制图构造研究第49-59页
     ·晶圆膜淀积制造过程的描述第50-51页
     ·晶圆膜淀积制造过程的方差分量控制图构造步骤第51-52页
     ·方差分量控制图的构造第52-57页
     ·实证研究第57-59页
   ·本章小结第59-61页
结论第61-62页
致谢第62-63页
参考文献第63-66页

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