| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-9页 |
| 第一章 前言 | 第9-30页 |
| ·纳米材料的概念 | 第9页 |
| ·常见氧化铝的晶型和形成机理 | 第9-11页 |
| ·γ—Al_2O_3 | 第9-10页 |
| ·α—Al_2O_3 | 第10页 |
| ·勃姆石煅烧过程分析 | 第10-11页 |
| ·纳米氧化铝粉体的制备 | 第11-18页 |
| ·固相法 | 第12-14页 |
| ·气相法 | 第14-15页 |
| ·液相法 | 第15-18页 |
| ·铝锭法制备纳米氧化铝粉体简介 | 第18-21页 |
| ·铝锭制备异丙醇铝及聚合成勃姆石溶胶的机理 | 第19页 |
| ·原料的选取 | 第19-20页 |
| ·溶胶和粉体制备过程中主要的影响因素 | 第20-21页 |
| ·纳米Al_2O_3粉体的应用 | 第21-22页 |
| ·表面改性概述 | 第22-28页 |
| ·表面改性的定义 | 第22-23页 |
| ·表面改性的目的和意义 | 第23页 |
| ·表面活性剂的机理 | 第23-24页 |
| ·表面活性剂的分类和选择 | 第24-26页 |
| ·表面活性剂的改性工艺 | 第26-27页 |
| ·团聚机理和解决方法 | 第27-28页 |
| ·立题依据和实验内容 | 第28-30页 |
| 第二章 异丙醇铝制备水合氧化铝的相关条件研究 | 第30-39页 |
| ·概述 | 第30-31页 |
| ·实验过程 | 第31-35页 |
| ·实验原料 | 第31页 |
| ·实验设备 | 第31-32页 |
| ·测试仪器 | 第32页 |
| ·实验方法 | 第32-34页 |
| ·样品编号及对应制备条件 | 第34-35页 |
| ·水合氧化铝干凝胶粉分析 | 第35-38页 |
| ·透射电镜分析 | 第35-37页 |
| ·XRD分析 | 第37页 |
| ·红外光谱分析 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 胶溶剂对水合氧化铝和γ-Al_2O_3粉体影响 | 第39-51页 |
| ·胶溶剂概念及其作用原理 | 第39-40页 |
| ·实验过程 | 第40-42页 |
| ·实验原料 | 第40-41页 |
| ·实验设备和测试仪器 | 第41页 |
| ·实验方法 | 第41页 |
| ·样品标号和对应制备条件 | 第41-42页 |
| ·测试结果与分析 | 第42-49页 |
| ·粒度分析 | 第42-45页 |
| ·纳米氧化铝粉体的XRD衍射分析 | 第45-46页 |
| ·水合氧化铝干凝胶粉和γ-Al_2O_3粉体分析 | 第46-49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第四章 表面活性剂对水合氧化铝和γ-Al_2O_3粉体特征的影响 | 第51-59页 |
| ·概述 | 第51-52页 |
| ·实验过程 | 第52-53页 |
| ·实验原料 | 第52页 |
| ·实验设备和测试仪器 | 第52页 |
| ·实验方法 | 第52-53页 |
| ·样品标号和对应制备条件 | 第53页 |
| ·测试结果与表征 | 第53-56页 |
| ·粉体XRD分析 | 第53-54页 |
| ·粉体特征分析 | 第54-56页 |
| ·表面活性剂结构和结果分析 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 第五章 水合氧化铝的热处理工艺及其优化 | 第59-77页 |
| ·概述 | 第59页 |
| ·实验过程 | 第59-60页 |
| ·实验设备和测试方法 | 第59-60页 |
| ·实验方法 | 第60页 |
| ·水合氧化铝粉体的特性分析 | 第60-62页 |
| ·水合氧化铝粉体的热分析 | 第60-61页 |
| ·水合氧化铝粉体的FT-IR分析 | 第61-62页 |
| ·水合氧化铝粉体的XRD分析 | 第62页 |
| ·水合氧化铝粉体的热处理工艺参数的研究 | 第62-68页 |
| ·煅烧温及对纳米氧化铝晶型和大小的影响 | 第62-66页 |
| ·保温时间和冷却方式对纳米氧化铝晶型和大小的影响 | 第66-68页 |
| ·小结 | 第68页 |
| ·纳米γ-Al_2O_3最佳热处理工艺条件的研究 | 第68-75页 |
| ·正交试验原理和方法 | 第68-70页 |
| ·正交试验设计和样品标号 | 第70-73页 |
| ·三水平四因子正交实验对γ-Al_2O_3粒度的影响 | 第73-75页 |
| ·本章小结 | 第75-77页 |
| 第六章 全文总结 | 第77-80页 |
| 参考文献 | 第80-85页 |
| 发表论文 | 第85-86页 |
| 致谢 | 第86页 |
