面向PCB检测的AOI系统关键技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| ·研究背景及意义 | 第8-9页 |
| ·国内外相关研究的现状分析 | 第9-12页 |
| ·国外研究现状 | 第10-11页 |
| ·国内研究现状 | 第11-12页 |
| ·本文的主要研究内容及章节安排 | 第12-15页 |
| 第二章 AOI系统总体设计 | 第15-22页 |
| ·AOI系统结构组成及工作原理 | 第15-16页 |
| ·照明系统设计 | 第16页 |
| ·图像采集系统设计 | 第16-20页 |
| ·CCD相机 | 第17-18页 |
| ·光学镜头 | 第18-19页 |
| ·图像采集卡 | 第19-20页 |
| ·运动控制系统设计 | 第20页 |
| ·图像处理系统设计 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 PCB图像的去噪与分割研究 | 第22-29页 |
| ·彩色图像灰度化 | 第22-23页 |
| ·图像去噪 | 第23-25页 |
| ·均值滤波 | 第23-24页 |
| ·中值滤波 | 第24-25页 |
| ·图像分割 | 第25-28页 |
| ·直方图阈值法 | 第25-26页 |
| ·Otsu法 | 第26页 |
| ·最大熵阈值法 | 第26-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 基于特征的PCB图像拼接算法研究 | 第29-48页 |
| ·图像拼接概述 | 第29-31页 |
| ·图像拼接的基本原理 | 第29-30页 |
| ·图像拼接的方法 | 第30-31页 |
| ·PCB图像拼接方法分析 | 第31页 |
| ·基于SIFT特征的PCB图像拼接算法 | 第31-37页 |
| ·SIFT特征点的提取 | 第32-35页 |
| ·SIFT特征点的匹配 | 第35-36页 |
| ·RANSAC算法剔除误匹配及求取变换模型 | 第36-37页 |
| ·基于SURF特征的PCB图像拼接算法 | 第37-44页 |
| ·SURF特征点的提取 | 第38-42页 |
| ·改进的SURF特征点匹配 | 第42-44页 |
| ·实验与分析 | 第44-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 PCB图像精确对准研究 | 第48-58页 |
| ·PCB图像对准概述 | 第48-49页 |
| ·定位孔定位研究 | 第49-53页 |
| ·基于最小二乘法的圆检测算法 | 第49-50页 |
| ·基于Hough变换的圆检测算法 | 第50-52页 |
| ·基于改进的Hough变换的圆检测算法 | 第52-53页 |
| ·实验与分析 | 第53-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第六章 PCB缺陷检测技术研究与系统实现 | 第58-74页 |
| ·PCB上的常见缺陷及其检测方法 | 第58-60页 |
| ·常见缺陷分类 | 第58-59页 |
| ·PCB缺陷检测方法 | 第59-60页 |
| ·图像对比及其后处理 | 第60-63页 |
| ·图像对比 | 第61-62页 |
| ·基于数学形态学的对比后处理 | 第62-63页 |
| ·基于线段的连通域的检测方法 | 第63-67页 |
| ·连通域的概念 | 第63-64页 |
| ·基于线段的连通域检测算法 | 第64-65页 |
| ·实验与分析 | 第65-67页 |
| ·PCB缺陷定位与识别 | 第67-73页 |
| ·缺陷的定位 | 第67页 |
| ·缺陷的识别 | 第67-69页 |
| ·缺陷识别流程 | 第69页 |
| ·缺陷识别系统实现及分析 | 第69-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 第七章 总结与展望 | 第74-76页 |
| ·总结 | 第74页 |
| ·展望 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-81页 |
| 作者简介 | 第81页 |
