残余应力的超声波检测研究
| 1 绪论 | 第1-12页 |
| ·概述 | 第7-8页 |
| ·超声波检测残余应力的技术发展 | 第8-10页 |
| ·超声波检测残余应力的技术关键和难点 | 第10-12页 |
| 2 残余应力的产生及影响 | 第12-16页 |
| ·残余应力的产生 | 第12-14页 |
| ·残余应力的产生原理 | 第12-13页 |
| ·残余应力的分类 | 第13页 |
| ·残余应力的产生原因 | 第13-14页 |
| ·残余应力的影响 | 第14-16页 |
| ·残余应力对静强度的影响 | 第14-15页 |
| ·残余应力对疲劳的影响 | 第15页 |
| ·残余应力对脆性破坏和应力腐蚀开裂的影响 | 第15-16页 |
| 3 残余应力的测试方法 | 第16-20页 |
| ·残余应力的机械检测方法 | 第16页 |
| ·残余应力的物理测定方法 | 第16-20页 |
| ·X 射线测定 | 第16-18页 |
| ·磁性测定 | 第18页 |
| ·扫描电子声显微镜 | 第18页 |
| ·中子衍射法 | 第18-20页 |
| 4 超声波测定残余应力的理论基础 | 第20-36页 |
| ·超声检测的物理基础 | 第20-24页 |
| ·超声波的产生与接受 | 第20-21页 |
| ·超声波的波型与传播特征 | 第21-23页 |
| ·LCR 波 | 第23-24页 |
| ·声弹性效应 | 第24-28页 |
| ·声弹性公式 | 第24-25页 |
| ·声弹性常数的计算 | 第25-26页 |
| ·LCR 波的声弹性效应 | 第26-28页 |
| ·材料的各向异性问题 | 第28-29页 |
| ·温度对测定的影响 | 第29-30页 |
| ·各种材料的声度变化 | 第30-31页 |
| ·声速的测定方法 | 第31-34页 |
| ·临界角折射法UCRfr | 第31-33页 |
| ·固定距离折射法 | 第33-34页 |
| ·频谱测定法 | 第34-36页 |
| 5 实验分析 | 第36-39页 |
| ·试样与实验过程 | 第36页 |
| ·临界角折射法数据分析 | 第36-39页 |
| 6 超声波应力测量仪 | 第39-55页 |
| ·超声波应力测量仪总体设计 | 第39-43页 |
| ·测试装置 | 第39页 |
| ·系统硬件总体设计 | 第39-41页 |
| ·超声波传感器 | 第41-43页 |
| ·CPLD（复杂可编程逻辑器件） | 第43-44页 |
| ·CPLD 简介 | 第43-44页 |
| ·CPLD 开发工具 | 第44页 |
| ·传感器驱动 | 第44-46页 |
| ·CPLD 驱动电路原理与分析 | 第44-45页 |
| ·CPLD 精确脉冲信号的实现 | 第45-46页 |
| ·信号调理电路 | 第46-50页 |
| ·信号接受放大电路 | 第46-48页 |
| ·滤波电路 | 第48-49页 |
| ·电压比较电路 | 第49-50页 |
| ·光电隔离驱动 | 第50页 |
| ·微处理器与I/O 控制 | 第50-52页 |
| ·按键 | 第51页 |
| ·LED 显示器 | 第51-52页 |
| ·通讯控制 | 第52页 |
| ·超声波传播时间的精确测量 | 第52-55页 |
| ·信号检测原理 | 第52-53页 |
| ·逻辑控制与计数 | 第53-55页 |
| 7 结论 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-60页 |
| 附录 | 第60-72页 |
