嵌入式系统在SPI FLASH存储器测试中的应用

摘要	第1-5页
Abstract	第5-8页
引言	第8页
1 半导体存储器件测试概述	第8-28页
·半导体测试系统的种类	第10-12页
·存储器件测试系统	第11页
·模拟器件或者线性器件测试系统	第11页
·混合信号器件测试系统	第11页
·数字电路器件测试系统	第11-12页
·半导体测试设备综述	第12-20页
·测试设备内部结构	第13-17页
·测试通道	第17-20页
·测试设备附属	第20页
·SPIFLASH存储器结构和测试方法分析	第20-28页
·SPI接口及FLASH	第20-22页
·存储器测试方法分析	第22页
·存储器DC测试	第22-26页
·存储器AC测试	第26-27页
·存储器功能测试	第27-28页
·课题的研究内容及意义	第28页
2 DC测量模块的设计	第28-35页
·PMU芯片AD5522	第29-31页
·ADC AD7685	第31页
·由PMU和ADC构成的DC测试模块	第31-35页
3 LPC2103 功能测试板设计	第35-44页
·LPC2103测试板主控芯片概述	第36-37页
·控制及功能测试电路设计	第37-44页
·电源电路设计	第37页
·最小系统电路设计	第37-40页
·系统接口电路设计	第40-44页
4 测试系统软件设计	第44-53页
·基于μCOS2嵌入式实时硬件控制系统的设计	第44-47页
·μCOS-Ⅱ在LPC2103系统上的移植	第44-45页
·基于μCOS-Ⅱ系统进行控制系统的软件设计	第45-47页
·FLASH功能测试软件的设计	第47-52页
·FLASH失效模式分析	第48页
·FLASH失效原因	第48-49页
·根据故障模式建立FLASH失效模型	第49-50页
·根据故障模式建立测试算法	第50-52页
·小结	第52-53页
结论	第53-54页
参考文献	第54-56页
附录A 测试源程序(部分)	第56-106页
附录B FLASH测试电路板原理图(部分)	第106-107页
在学研究成果	第107-108页
致谢	第108页