| 论文提要 | 第1-7页 |
| 第一章 前言 | 第7-17页 |
| ·高压物理学简介 | 第7页 |
| ·高压装置 | 第7-10页 |
| ·金刚石对顶砧 | 第8-9页 |
| ·金刚石对顶砧的应用 | 第9-10页 |
| ·高压下电学测量的发展及研究意义 | 第10-14页 |
| ·高压下直流测量方法 | 第10页 |
| ·高压下交流阻抗谱法 | 第10-14页 |
| ·高压下电学性质的研究意义 | 第14页 |
| ·同步辐射的发展及应用 | 第14-15页 |
| ·论文选题的目的和意义 | 第15-16页 |
| ·本论文各部分的主要内容 | 第16-17页 |
| 第二章 电学测量方法及微电路在金刚石对顶砧上的集成 | 第17-25页 |
| ·范德堡电学测量方法简介 | 第17-18页 |
| ·微电路在金刚石对顶砧上的集成 | 第18-24页 |
| ·电极的集成过程 | 第19-22页 |
| ·样品厚度的测量 | 第22-23页 |
| ·集成电极测量方法的特点 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 CaB_4及Bi_2Sr_2Co0_(6+X)高压电学性质研究 | 第25-35页 |
| ·CaB_4研究背景 | 第25-27页 |
| ·CaB_4高压电学测量结果 | 第27-28页 |
| ·高压下CaB_4电阻率随温度的变化关系 | 第28-29页 |
| ·Bi_2Sr_2Co0_(6+X)(0.4＜x＜0.5)研究背景 | 第29-32页 |
| ·Bi_2Sr_2Co0_(6+X)(0.4＜x＜0.5)高压电学测量 | 第32-33页 |
| ·高压下直流电阻率测量 | 第32页 |
| ·高压下交流阻抗谱测量 | 第32-33页 |
| ·Bi_2Sr_2Co0_(6+X)(0.4＜x＜0.5)电导率随温度变化关系 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 CaB_4的高压同步辐射研究 | 第35-43页 |
| ·高压同步辐射 | 第35-37页 |
| ·高压下的同步辐射能量色散X光散射 | 第35-36页 |
| ·高压下的同步辐射角度色散X光散射 | 第36页 |
| ·传压介质的选择 | 第36-37页 |
| ·CaB_4高压同步辐射测量 | 第37-39页 |
| ·CaB_4状态方程及体弹模量计算 | 第39-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 总结与展望 | 第43-45页 |
| 参考文献 | 第45-49页 |
| 中文摘要 | 第49-51页 |
| ABSTRACT | 第51-53页 |
| 致谢 | 第53页 |
