嵌入式计算机可测试性设计
| 目录 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 前言 | 第7-10页 |
| ·研究背景 | 第7-8页 |
| ·SJTAG的现状 | 第8页 |
| ·本文的工作 | 第8-10页 |
| 第二章 嵌入式计算机可测试性设计 | 第10-30页 |
| ·可测试性技术概述 | 第10-12页 |
| ·专项设计 | 第10-11页 |
| ·结构设计 | 第11-12页 |
| ·边界扫描的原理 | 第12-13页 |
| ·边界扫描的物理结构 | 第13-17页 |
| ·基于边界扫描的可测试性设计方法 | 第17-26页 |
| ·芯片级 | 第17-18页 |
| ·电路板级或模块级 | 第18-23页 |
| ·系统级设计 | 第23-26页 |
| ·边界扫描测试类型及方法 | 第26-30页 |
| 第三章 SJTAG系统架构 | 第30-34页 |
| ·SJTAG的概况及优点 | 第30-31页 |
| ·SJTAG的硬件结构 | 第31-32页 |
| ·SJTAG的软件结构特点 | 第32-34页 |
| 第四章 支持SJTAG的测试系统 | 第34-50页 |
| ·测试总线以及测试链路复用设计 | 第34-36页 |
| ·硬件部分扫描端口多路复用器 | 第36-50页 |
| ·扫描端口多路复用器的体系结构 | 第37-38页 |
| ·扫描端口多路复用器的状态机 | 第38-41页 |
| ·扫描端口多路复用器的操作模式 | 第41-42页 |
| ·扫描桥模式 | 第41页 |
| ·全透明模式 | 第41页 |
| ·透明LSP模式 | 第41-42页 |
| ·扫描端口多路复用器的两级协议控制 | 第42-50页 |
| ·第一级协议 | 第42-44页 |
| ·第二级协议 | 第44-50页 |
| 第五章 软件部分设计 | 第50-65页 |
| ·SCANBRIDGE的协议设计 | 第50-53页 |
| ·第一级协议设计 | 第50-52页 |
| ·第二级协议设计 | 第52-53页 |
| ·软件框架 | 第53-55页 |
| ·BSDL格式转换模块 | 第55-58页 |
| ·测试配置模块 | 第58-59页 |
| ·测试向量生成模块 | 第59-60页 |
| ·测试结果生成模块 | 第60-61页 |
| ·测试分析模块 | 第61-65页 |
| ·测试分析模块的改进 | 第62-65页 |
| 第六章 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 附录:攻读硕士期间发表的学位论文 | 第69-70页 |
