| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-16页 |
| ·OCT的发展历史 | 第7-8页 |
| ·光学相干层析术的特点 | 第8-10页 |
| ·OCT系统的分类 | 第10-12页 |
| ·光学相干层析的应用 | 第12-13页 |
| ·OCT的研究现状和研究重点 | 第13-14页 |
| ·本文的研究目的和主要工作 | 第14-16页 |
| 第二章 传统的光学相干层析系统 | 第16-31页 |
| ·OCT检测对象的光学特性 | 第16-18页 |
| ·光学相干层析术的原理 | 第18-22页 |
| ·基本原理 | 第18-20页 |
| ·散射与OCT | 第20-22页 |
| ·OCT光信号分析及其分辨率 | 第22-26页 |
| ·参考臂与样品臂的光干涉信号分析 | 第22-24页 |
| ·光学相干层析成像的分辨率 | 第24-25页 |
| ·信噪比和动态范围 | 第25-26页 |
| ·图像获取时间 | 第26页 |
| ·OCT系统的组成结构 | 第26-31页 |
| 第三章 成像光谱仪 | 第31-39页 |
| ·成像光谱仪原理及其分类 | 第31-34页 |
| ·色散型成像光谱仪 | 第31-33页 |
| ·干涉型成像光谱仪 | 第33页 |
| ·成像光谱仪的应用 | 第33-34页 |
| ·iHR320成像光谱仪 | 第34-39页 |
| ·iHR320成像光谱仪系统原理 | 第34-37页 |
| ·iHR320成像光谱仪与光栅光谱仪的区别 | 第37-39页 |
| 第四章 基于成像光谱仪的线聚焦频域光学相干层析系统 | 第39-52页 |
| ·频域OCT | 第39-42页 |
| ·频域OCT系统及其原理 | 第39-41页 |
| ·频域OCT主要性能参数 | 第41-42页 |
| ·基于成像光谱仪的线聚焦频域OCT | 第42-52页 |
| ·线聚焦方式 | 第42-43页 |
| ·线聚焦频域OCT的成像分辨率与测量深度 | 第43-44页 |
| ·实验装置 | 第44-49页 |
| ·实验系统搭建与调节步骤 | 第49-52页 |
| 第五章 成像实验与数据分析 | 第52-59页 |
| ·实验系统中的主要噪声及其处理方法 | 第52-54页 |
| ·反射镜成像实验 | 第54-56页 |
| ·层析成像实验 | 第56-59页 |
| 工作总结与展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |