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三维电阻抗成像系统及其应用研究

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
1 前言第9-16页
    1.1 EIT的研究背景及意义第9-10页
    1.2 EIT国内外研究现状第10-13页
        1.2.1 EIT国内研究现状第10-11页
        1.2.2 EIT国外研究现状第11-13页
    1.3 EIT技术的应用第13页
    1.4 本文研究的主要内容第13-14页
    1.5 论文组织结构说明第14-16页
2 电阻抗成像技术的理论研究第16-21页
    2.1 EIT的数学物理模型第16-19页
        2.1.1 EIT的正问题第18页
        2.1.2 EIT的逆问题第18-19页
    2.2 图像重建方法第19-21页
3 三维电阻抗电路模型构建第21-27页
    3.1 三维电阻抗电路模型提出第21-23页
    3.2 电路模型验证第23页
    3.3 图像重建第23-24页
    3.4 指标评价第24-27页
4 三维电阻抗电路硬件设计第27-41页
    4.1 电路硬件总体架构第27-28页
    4.2 电源模块第28-36页
        4.2.1 一级DC/DC电路设计第29-34页
        4.2.2 二级LDO电源电路设计第34-35页
        4.2.3 FPGA芯片供电设计第35-36页
    4.3 激励源模块第36-37页
    4.4 多路复用器模块第37页
    4.5 信号采集模块第37-41页
        4.5.1 AD8130差分放大电路第38-39页
        4.5.2 模数转换电路第39-41页
5 电阻抗成像系统在方形场域的应用研究第41-64页
    5.1 两相流流型研究第41-43页
    5.2 两相流实验装置设计第43-47页
        5.2.1 两相流实验装置的结构框架第43-45页
        5.2.2 两相流实验的实验流程第45-47页
        5.2.3 两相流实验的上位机界面设计第47页
    5.3 方形场域建模及仿真成像第47-56页
        5.3.1 方形场的二维建模及仿真成像第47-51页
        5.3.2 方形场中两相流的二维建模及仿真成像第51-53页
        5.3.3 方形场的三维建模及仿真成像第53-56页
    5.4 电阻抗系统性能测试及成像实验第56-64页
        5.4.1 系统性能测试第56-58页
        5.4.2 两相流方形实验平台成像实验第58-64页
6 总结与展望第64-66页
    6.1 全文总结第64页
    6.2 论文创新点第64-65页
    6.3 论文的不足之处第65-66页
7 参考文献第66-72页
8 论文发表情况第72-73页
9 致谢第73页

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