基于机器视觉的偏光片缺陷检测技术研究
| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-22页 |
| 1.1 偏光片 | 第9-11页 |
| 1.2 偏光片外观缺陷 | 第11-12页 |
| 1.3 偏光片外观缺陷检测技术 | 第12-19页 |
| 1.3.1 机器视觉检测 | 第13-15页 |
| 1.3.2 AOI | 第15-17页 |
| 1.3.3 偏光片离线检测技术 | 第17-19页 |
| 1.4 条纹结构光检测 | 第19-21页 |
| 1.5 研究内容与意义 | 第21-22页 |
| 第2章 极细微缺陷检测方法 | 第22-31页 |
| 2.1 极细微缺陷模型及其仿真 | 第22-27页 |
| 2.2 边缘光检测及其成像机理 | 第27-28页 |
| 2.3 基于RPCA的图像检测方法 | 第28-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 结构光饱和成像检测方法 | 第31-42页 |
| 3.1 饱和成像 | 第31-33页 |
| 3.2 条纹光饱和成像检测 | 第33-34页 |
| 3.3 图像处理方法 | 第34-41页 |
| 3.3.1 开运算自差分法 | 第34-36页 |
| 3.3.2 边界消除法 | 第36-39页 |
| 3.3.3 两步平均法 | 第39-40页 |
| 3.3.4 方法对比分析 | 第40-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 凹凸点缺陷深度估测 | 第42-56页 |
| 4.1 深度、宽度对缺陷成像的影响 | 第42-43页 |
| 4.2 缺陷参数与成像的关系 | 第43-45页 |
| 4.3 相关性分析 | 第45-55页 |
| 4.3.1 实测相关性分析 | 第45-51页 |
| 4.3.2 测量结果 | 第51-55页 |
| 4.4 本章小结 | 第55-56页 |
| 第5章 样机系统 | 第56-62页 |
| 5.1 相机布局 | 第56-57页 |
| 5.2 样机搭建 | 第57-59页 |
| 5.3 系统检测 | 第59-61页 |
| 5.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 第6章 总结与展望 | 第62-63页 |
| 6.1 总结 | 第62页 |
| 6.2 论文创新点 | 第62页 |
| 6.3 展望 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第68页 |
