| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第11-12页 |
| 1.2 磁检测技术的研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3 基于磁检测信号反演技术研究现状 | 第14-15页 |
| 1.4 本文的主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 磁路结构建模与分析 | 第17-25页 |
| 2.1 管道磁检测技术 | 第17-20页 |
| 2.1.1 缺陷处磁场形成 | 第17-18页 |
| 2.1.2 磁场基本理论 | 第18-20页 |
| 2.2 磁路模型的研究 | 第20-24页 |
| 2.2.1 轭铁厚度 | 第21页 |
| 2.2.2 永磁体厚度与长度 | 第21-23页 |
| 2.2.3 导磁体厚度 | 第23页 |
| 2.2.4 永磁体间距 | 第23-24页 |
| 2.3 本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 缺陷检测的磁场仿真研究 | 第25-43页 |
| 3.1 磁场分布的求解方法 | 第25-27页 |
| 3.1.1 解析法 | 第25页 |
| 3.1.2 数值法 | 第25-26页 |
| 3.1.3 面向缺陷检测的求解磁场分布方法选择 | 第26-27页 |
| 3.2 缺陷检测的有限元仿真 | 第27-34页 |
| 3.2.1 ANSYS系统介绍 | 第27页 |
| 3.2.2 缺陷检测有限元仿真过程 | 第27-34页 |
| 3.3 缺陷检测有限元仿真的结果分析 | 第34-37页 |
| 3.3.1 磁通密度矢量图 | 第34-35页 |
| 3.3.2 磁感应强度曲线分布图 | 第35-37页 |
| 3.4 缺陷特征对磁场影响因素分析 | 第37-42页 |
| 3.4.1 缺陷几何尺寸对磁场的影响 | 第38-40页 |
| 3.4.2 提离值对磁场的影响 | 第40-42页 |
| 3.4.3 其他因素对磁场的影响 | 第42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 基于CG的缺陷轮廓迭代反演方法研究 | 第43-59页 |
| 4.1 反演方法介绍 | 第43-45页 |
| 4.1.1 反演方法理论 | 第43-44页 |
| 4.1.2 几种常见的反演方法 | 第44-45页 |
| 4.2 缺陷轮廓的迭代反演方法 | 第45-49页 |
| 4.2.1 迭代反演正向模型 | 第46页 |
| 4.2.2 迭代反演优化算法 | 第46-49页 |
| 4.3 基于共轭梯度算法的缺陷轮廓迭代反演方法研究与实现 | 第49-54页 |
| 4.3.1 基于有限元方法的正向模型设计 | 第49-50页 |
| 4.3.2 共轭梯度迭代演算法实现 | 第50-54页 |
| 4.4 共轭梯度迭代反演方法的程序框图与基本步骤 | 第54-55页 |
| 4.4.1 程序框图 | 第54页 |
| 4.4.2 基本步骤 | 第54-55页 |
| 4.4.3 参数初始值的选择 | 第55页 |
| 4.5 反演结果及分析 | 第55-58页 |
| 4.6 本章小结 | 第58-59页 |
| 第5章 基于SA-CG结合算法的缺陷轮廓迭代反演方法研究 | 第59-77页 |
| 5.1 模拟退火算法 | 第59-61页 |
| 5.2 模拟退火与共轭梯度结合的改进算法研究与实现 | 第61-65页 |
| 5.2.1 改进算法实现 | 第61-62页 |
| 5.2.2 改进算法程序框图 | 第62页 |
| 5.2.3 改进算法基本步骤 | 第62-65页 |
| 5.3 反演结果 | 第65-70页 |
| 5.4 算法改进前后的反演结果对比 | 第70-76页 |
| 5.5 本章小结 | 第76-77页 |
| 第6章 总结与展望 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-83页 |
| 致谢 | 第83-85页 |
| 攻读硕士期间科研情况 | 第85页 |
