| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 1 绪论 | 第7-13页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第7-8页 |
| 1.2 可靠性分析的研究现状 | 第8-9页 |
| 1.2.1 基于分析的方法 | 第8-9页 |
| 1.2.2 基于仿真的方法 | 第9页 |
| 1.2.3 仿真与分析的混合方法 | 第9页 |
| 1.3 近似加法器的研究现状 | 第9-10页 |
| 1.4 主要内容和结构安排 | 第10-13页 |
| 2 可靠性分析 | 第13-22页 |
| 2.1 信号概率与可靠性定义 | 第13-14页 |
| 2.2 可靠性分析常用方法 | 第14-20页 |
| 2.2.1 概率转移矩阵法 | 第14-16页 |
| 2.2.2 概率门模型方法 | 第16页 |
| 2.2.3 信号概率可靠性分析法 | 第16-18页 |
| 2.2.4 蒙特·卡洛仿真法 | 第18页 |
| 2.2.5 二项分布分析法 | 第18-20页 |
| 2.3 可靠性分析方法比较 | 第20-21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-22页 |
| 3 故障注入与可靠性评估平台的可靠性分析 | 第22-31页 |
| 3.1 故障注入与可靠性评估平台概述 | 第22页 |
| 3.2 FIRE平台 | 第22-30页 |
| 3.2.1 FIRE平台的具体结构 | 第23-24页 |
| 3.2.2 FIRE平台中各信号的解释 | 第24-26页 |
| 3.2.3 故障注入模块 | 第26-29页 |
| 3.2.4 可靠性计算 | 第29-30页 |
| 3.3 本章小结 | 第30-31页 |
| 4 数字电路中各组成逻辑门的重要性 | 第31-37页 |
| 4.1 逻辑门重要性概述 | 第31-32页 |
| 4.1.1 三模冗余 | 第31-32页 |
| 4.1.2 组成逻辑门重要性研究意义 | 第32页 |
| 4.2 电路组成门的重要性 | 第32-33页 |
| 4.3 电路重要性分类实例 | 第33-36页 |
| 4.3.1 c17电路的重要性分类 | 第33页 |
| 4.3.2 74283电路的重要性分类 | 第33-36页 |
| 4.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 5 混合结构的近似加法器 | 第37-60页 |
| 5.1 近似运算的背景与意义 | 第37页 |
| 5.2 近似加法器介绍 | 第37-43页 |
| 5.3 混合结构近似加法器(HYB Adder)结构 | 第43-45页 |
| 5.4 近似加法器的误差特性分析 | 第45-47页 |
| 5.5 近似加法器的性能评估 | 第47-51页 |
| 5.5.1 Cadence Encounter RTL Compiler简单介绍 | 第47页 |
| 5.5.2 28nm FDSOI工艺 | 第47-48页 |
| 5.5.3 HYB Adder的性能参数测试 | 第48-51页 |
| 5.6 近似加法器在DCT/IDCT图像变换中的应用 | 第51-59页 |
| 5.6.1 DCT/IDCT图像变换的原理 | 第51-53页 |
| 5.6.2 MATLAB及其相关函数介绍 | 第53-54页 |
| 5.6.3 基于FPGA的DCT实现过程 | 第54-55页 |
| 5.6.4 量化与逆量化 | 第55页 |
| 5.6.5 基于FPGA的IDCT变换 | 第55-57页 |
| 5.6.6 HYB Adder在DCT/IDCT应用结果 | 第57-59页 |
| 5.7 本章小结 | 第59-60页 |
| 6 总结与展望 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-67页 |
| 附录 | 第67页 |
